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標題: 測厚儀的概述和選型 [打印本頁]
      

      
作者: MT006    時間: 2012-8-21 14:30
      
標題: 測厚儀的概述和選型
       本帖最后由 MT006 于 2012-8-27 11:51 編輯 
      

      
      超聲波測厚儀是一種利用超聲波諧振原理來精密測量部件厚度變化的超聲波電子儀器。測量過程中,只需與部件的一個表面接觸,就可在儀器螢光屏的刻度尺上直接讀出厚度值.在一定范圍內,操作簡單,讀數方便,準確度高. 儀器由壓電換能器、調頻振蕩器、脈沖放大器及大屏幕顯示器等部分組成。 調頻振蕩器的工作頻率作周期性變化.壓電換能器將振蕩器電能轉換成頻率變化的聲能,從外表面向被測部件的內部輻射超聲波.當超聲波半波長等于部件厚度或其整數分之一時,會產生“厚度諧振”現象.此時,振蕩器將在這些頻率上輸出與厚度對應的電脈沖信號.經過放大器放大,在螢光屏上顯示出來.顯示器的水平掃描與頻率的變化周期同步. 儀器采取了提高穩定性的措施,保證測量具有高的準確度.機內帶有磁飽和穩壓裝置。有效地克眼了市電來的各種干擾.在市電180—230伏的漲落范圍內都能正常工作.顯示部分還采用了高頻高壓穩壓裝置。此外,振蕩部分采用電感調頻式雙三極陰極偶合電路,起振容易,諧波夫真小,可工作的頻率范圍大,變換頻段及調整方便.壓電換能器采用結鈦酸鉛壓電陶瓷.它與部件接觸的一面粘有用耐磨材料氧化鋁陶瓷做的保護膜，使換能器在使用中不受磨損。 涂層測厚儀選型注意事項 
      
(一)選型注意事項細則 
      
1、我廠的涂層為防火材料，厚度在 5-8個毫米，能否使用貴廠的產品進行測量。 
      
    答：選配TT260配以F10探頭，可測量0－10mm的涂層厚度。 
      
2、可以測量薄膜、紙張的厚度嗎？ 
      
    答：對于滿足厚度要求的薄膜、紙張的厚度通過底部襯金屬基材的方式是可以測量的，目前這方面的應用客戶很多。 
      
3、CN02探頭是用來測什么材料的？ 
      
    答：CN02探頭是專門用來測量線路版上銅箔厚度的，量程為0－200um 
      

      
(二)涂層測厚儀影值的因素 
      

      
      1．影響因素的有關說明 
      
a) 基體金屬磁性質 
      
    磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。 
      
b) 基體金屬電性質 
      
    基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。 
      
c) 基體金屬厚度 
      
    每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。 
      
d) 邊緣效應 
      
    本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。 
      
e) 曲率 
      
    試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。 
      
f) 試件的變形 
      
    測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。 
      
g) 表面粗糙度 
      
    基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。 
      
g) 磁場 
      
    周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。 
      
h) 附著物質 
      
    本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。 
      
i) 測頭壓力 
      
    測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。 
      
j) 測頭的取向 
      
    測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。 
      

      
      2．使用儀器時應當遵守的規定 
      

      
      a) 基體金屬特性 
      
    對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 
      
    對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。 
      
b) 基體金屬厚度 
      
    檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3)中的某種方法進行校準。 
      
c) 邊緣效應 
      
    不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。 
      
d) 曲率 
      
    不應在試件的彎曲表面上測量。 
      
e) 讀數次數 
      
    通常由于儀器的每次讀數并不完全相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。 
      
f) 表面清潔度 
      
    測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質
      

      測厚儀
      參考資料：http://www.mitech-ndt.com/chy/ 
      
作者: Endlesslove    時間: 2012-8-25 08:37
      
{:soso_e179:}
      
作者: 金宇飛    時間: 2012-8-26 10:43
      
超聲測厚儀介紹得太簡略。
      
希望詳細地介紹一下超聲測厚儀的種類、型號規格、性能指標、適用對象、影響因素、選用原則。
      
作者: MT006    時間: 2012-8-27 11:48
      

      金宇飛 發表于 2012-8-26 10:43 
      
超聲測厚儀介紹得太簡略。
      
希望詳細地介紹一下超聲測厚儀的種類、型號規格、性能指標、適用對象、影響因素 ...

      
好的 我回去好好整理一篇~多謝哦！




      

      

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