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      遠東無損檢測資訊網

      標題: 相控陣直探頭檢測-靈敏度的選擇 [打印本頁]

      作者: Ansan    時間: 2013-5-20 17:25
      標題: 相控陣直探頭檢測-靈敏度的選擇
        今天在做相控陣直探頭檢測T=20mm平板,發現一個問題:
      1、隨著增益調大時,在B型圖像上出現了許多缺陷,通過看深度數值 都小于20mm, 該怎么去區分真實缺陷和未缺陷呢??

      作者: 糟老頭子    時間: 2013-5-20 17:32
      能傳個圖看看嗎?
      作者: Ansan    時間: 2013-5-21 08:52
      糟老頭子 發表于 2013-5-20 17:32
      能傳個圖看看嗎?

      我這里沒有存圖像!不好意思!

      你可以試著將探頭放在平板焊縫上,一目了然。

      作者: 糟老頭子    時間: 2013-5-21 09:09
      Ansan 發表于 2013-5-21 08:52
      我這里沒有存圖像!不好意思!

      你可以試著將探頭放在平板焊縫上,一目了然。

      你是檢測焊縫還是母材?
      作者: 王聯國    時間: 2013-5-21 10:13
      {:soso_e100:}
      作者: Ansan    時間: 2013-5-21 15:11
      糟老頭子 發表于 2013-5-21 09:09
      你是檢測焊縫還是母材?

      檢測人工T型焊縫。。我采用直探頭線性掃查,探頭放置在翼板外側。
      1、翼板和腹板的厚度都是20mm
      2、單V型坡口
      檢測時:
      1、 在同一增益下,人工缺陷很明顯;但是B型圖像上出現靈敏度較低的圓形圖像,此時增大增益時,深度數值都大約在15-20mm之間。
      2、根據上述的情況,直探頭檢測時,沒有什么辦法去辨別是真缺陷還是幾何缺陷。。
      3、在使用斜探頭時,我們可以采用反射波原理和水平數值來進行辨別的。


      以上問題是我在檢測過程中,遇到的問題;
      望高手們不吝賜教!!!{:soso_e178:}

      作者: allen_hay    時間: 2013-5-21 16:55
      1。 該問題在掃非焊縫區域時是否依然存在?
      2。 出現的回波是大量出現還是時有時無?
      3。 你說的現象我曾今做過,當時是按照焊縫中有相關缺陷判斷的,由于深度出現在一倍板厚內,不存在幾何結構的問題,如可以排除脈沖重復頻率過高,個人認為焊縫的熱影響區位置存在當量較小的缺陷。
      作者: Ansan    時間: 2013-5-21 23:34
      allen_hay 發表于 2013-5-21 16:55
      1。 該問題在掃非焊縫區域時是否依然存在?
      2。 出現的回波是大量出現還是時有時無?
      3。 你說的現象我曾今 ...

      再次補充說明一下:
      1、在同一增益、同一條件下:
      a.將探頭放置在翼板外側,線性掃查、只放置在焊縫對應的板材上時,出現很多靈敏度低的圓形圖像,此時增大增益時,閘門測A型波,出現的缺陷深度都在小于20mm。
        問題是:如果未知板材是否存在缺陷的條件下,是不是會引起誤判?? 我這里的人工T型試塊是沒有缺陷的!!
      b.將探頭放置在翼板旁邊的母材上,卻沒有出現任何靈敏度低的圓形圖像,僅僅是有底波的反射波!!

      綜合因素:
      1.引起這現象的原因 有那幾種??
      2.怎么去判別這樣的缺陷呢?
      作者: allen_hay    時間: 2013-5-22 15:31
      你將該現象重復一下,扶穩探頭,降低設備的脈沖重復頻率,看該現象還存不存在。
      如果仍然存在,換一個常規直探頭提高增益,上去掃一下,看是否有同樣的現象出現。

      如果降低了脈沖重復頻率,該現象消失,那么說明是波束在焊縫中的多次反射誤被接收。如果常規直探頭也有相關顯示說明那個地方確實有問題。

      樓上意下如何??
      作者: 糟老頭子    時間: 2013-5-22 17:53
      Ansan 發表于 2013-5-21 15:11
      檢測人工T型焊縫。。我采用直探頭線性掃查,探頭放置在翼板外側。
      1、翼板和腹板的厚度都是20mm
      2、單V型 ...

      不好意思,我還是不明白你的問題是什么。能再詳細說下嘛?
      作者: Ansan    時間: 2013-5-22 19:26
      糟老頭子 發表于 2013-5-22 17:53
      不好意思,我還是不明白你的問題是什么。能再詳細說下嘛?

      同志,你好!{:soso_e100:}
        我已經描述的很清楚了,麻煩你再次推敲一下! 應該有所發現!會明白我的問題的!!
      我挺你~!

      作者: Ansan    時間: 2013-5-22 19:30
      allen_hay 發表于 2013-5-22 15:31
      你將該現象重復一下,扶穩探頭,降低設備的脈沖重復頻率,看該現象還存不存在。
      如果仍然存在,換一個常規 ...

      你的提示很好!
      1、首先降低重復頻率時,并沒,沒有引起相關圖示的靈敏度較低,所以可以斷定:和重復頻率沒有關系的!
      2、目前我沒有采用常規的探頭進行檢測;但是你的提示,經過多次反射形成的誤接收。
            這也許是唯一的解釋了。。

      作者: 糟老頭子    時間: 2013-5-22 20:56
      Ansan 發表于 2013-5-22 19:30
      你的提示很好!
      1、首先降低重復頻率時,并沒,沒有引起相關圖示的靈敏度較低,所以可以斷定:和重復頻 ...

      不知是不是因為我的理解能力比較差,還是不太明白你問題的所在。
      增加增益后,靈敏度提高,工件中的噪聲或小的缺陷當然會顯示出來,這很正常啊?你還是傳個圖片詳細你的問題為好,畢竟超聲波這東西也不是很好理解的,樓下,你說呢?
      作者: Ansan    時間: 2013-5-22 23:07
      糟老頭子 發表于 2013-5-22 20:56
      不知是不是因為我的理解能力比較差,還是不太明白你問題的所在。
      增加增益后,靈敏度提高,工件中的噪聲 ...

      你提到的‘“工件中的噪聲或者小缺陷”,我這有個疑問!
      條件: 使用相控陣直探頭,增益讀數為40dB,去檢測鋼板T=20mm, 如果發現相關顯示的深度數值小于20mm的缺陷。。你如何去辨別是噪聲還是缺陷呢??

      作者: 糟老頭子    時間: 2013-5-22 23:24
      Ansan 發表于 2013-5-22 23:07
      你提到的‘“工件中的噪聲或者小缺陷”,我這有個疑問!
      條件: 使用相控陣直探頭,增益讀數為40dB,去檢 ...

      工件中存在對后期使用時造成負面影響的“不連續”被定義為“缺陷”,你在校準好儀器靈敏度后,只要不連續的信號超過了你的檢出界限,那你就可以定義這個信號為缺陷信號了。
      你在儀器上區別不出哪個是不連續,那個是噪聲信號嗎?信噪比如此之低?還是你們的“檢出界限”過于苛刻?

      作者: Ansan    時間: 2013-5-22 23:38
      糟老頭子 發表于 2013-5-22 23:24
      工件中存在對后期使用時造成負面影響的“不連續”被定義為“缺陷”,你在校準好儀器靈敏度后,只要不連續 ...

      我不敢茍同!
      相控陣技術,存在許多幾何缺陷,類似柵瓣!
      你覺得用‘檢出界限’來判別真實缺陷和未缺陷,你覺得合適嗎??

      作者: 糟老頭子    時間: 2013-5-23 09:05
      Ansan 發表于 2013-5-22 23:38
      我不敢茍同!
      相控陣技術,存在許多幾何缺陷,類似柵瓣!
      你覺得用‘檢出界限’來判別真實缺陷和未缺陷 ...

      本來就是這樣判斷的,你看常規超聲做定量曲線(dac dgs),一樣的
      作者: 糟老頭子    時間: 2013-5-23 09:10
      Ansan 發表于 2013-5-22 23:38
      我不敢茍同!
      相控陣技術,存在許多幾何缺陷,類似柵瓣!
      你覺得用‘檢出界限’來判別真實缺陷和未缺陷 ...

      你覺得相控陣不能定量嗎?
      作者: Ansan    時間: 2013-5-23 11:28
      糟老頭子 發表于 2013-5-23 09:10
      你覺得相控陣不能定量嗎?

      首先一點相控陣能定量!但是目前的技術只是利用演變下來的TCG進行定量。
      但是它比常規超聲復雜性強,存在的幾何形狀相關圖示很多。   這就需要深入研究相控陣的原理(特別是在聲束上)+常規超聲反射和折射原理,綜合考慮才能不引起誤判。
      所以在你提出的僅僅依據“根據DAC”來判定缺陷,這是我不附議的原因所在。
      再舉個例子:
         假如使用直探頭檢測平板,發現了靈敏度的偏低的相關圖示,經過參考了深度數值,相關圖示是在板材內,但是波幅比我們預定TCG的波幅低。。
        但是我們并不能說明缺陷,不存在。

      作者: Ansan    時間: 2013-5-24 09:19
      {:soso_e100:}
      作者: 天道酬勤    時間: 2013-5-30 11:42
      好激烈啊 樓主你是用的奧林巴斯的儀器嗎?
      作者: Ansan    時間: 2013-5-30 11:49
      天道酬勤 發表于 2013-5-30 11:42
      好激烈啊 樓主你是用的奧林巴斯的儀器嗎?

      不是!!用的是汕頭研究所的!!

      作者: 糟老頭子    時間: 2013-5-31 21:59
      Ansan 發表于 2013-5-23 11:28
      首先一點相控陣能定量!但是目前的技術只是利用演變下來的TCG進行定量。
      但是它比常規超聲復雜性強,存 ...

      工件中,不可能是完美無瑕的,都或多或少存在一些不連續,這些不連續也可能會在檢測圖像(如你說的扇形掃描)上體現出來。
      這是很正常的現象啊
      作者: xxdx512    時間: 2013-6-4 11:05
      看高手之間的對話可以學到好多啊~~~
      作者: jorsonsh    時間: 2013-9-13 09:04
      {:soso_e163:}




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