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標題: 超聲波參考試塊 [打印本頁]
      

      
作者: yanyingjuanli    時間: 2015-9-15 21:03
      
標題: 超聲波參考試塊
       本帖最后由 yanyingjuanli 于 2015-9-15 21:06 編輯 
      

      
根據EN583-2（如圖片所示），橫孔的孔徑應該滿足D>1.5λ，那：CSK-IIIA試塊上的參考反射體φ1×6，孔徑是不是不符合該標準的？
      
問題2：EN583-2中，斜探頭的Deff怎么計算的，不然e>2×λ×S÷Deff怎么應用？
      

      
作者: 胡宏宇    時間: 2015-9-16 15:07
      
SDH英文為side-drilled hole,中文翻譯為橫孔。
      

      
      問題1:CSK-IIIA試塊，使用對象是斜探頭（橫波），不適用直探頭（縱波），而EN583-2的設計要求，是直/斜探頭都使用的，現在GB/T11345-2013已經引用EN583-2。
      
斜探頭（橫波 鋼）：1.5×（3.255÷5）=0.9765mm＜1
      
                              1.5×（3.255÷2.5）=1.953mm＞1
      
所以CSK-IIIA試塊，用5MHz以上的橫波斜探頭是滿足的。
      

      

      
問題2：Deff是晶片的有效直徑，e＞2×λ×S÷Deff是有半擴散角公式推導得出的。又矩形晶片有左右和上下兩種半擴散角，這里用的是左右半擴散角，在由于實際晶片寬度等于有效聲源寬度，所以Deff=矩形晶片寬度。
      

      
作者: yanyingjuanli    時間: 2015-9-16 23:03
      

      胡宏宇 發表于 2015-9-16 15:07
      
SDH英文為side-drilled hole,中文翻譯為橫孔。
      

      
問題1:CSK-IIIA試塊，使用對象是斜探頭（橫波），不適用直 ...

      
謝謝解答。只不過在學校學習時，老師只說了CSK-IIIA試塊在國外是沒有的，國外都是φ3的橫通孔，但學校里面卻用2.5P8×9的橫波探頭在CSK-IIIA試塊上做DAC曲線，然后檢測對接焊縫，而且效果貌似還不錯。根據您說的，那CSK-IIIA試塊只適合5MHz及其以上的探頭使用？
      

      
作者: 胡宏宇    時間: 2015-9-17 05:33
      
CSK-IIIA要滿足EN583-2的設計要求檢測，用5MHz以上，學校里面卻用2.5P8×9的橫波探頭在CSK-IIIA試塊上做DAC曲線，就是不滿足EN583-2的設計要求。
      
本身CSK-IIIA與EN583-2沒關系的，CSK-IIIA是短橫空，遠場區相當于平底孔，而EN583-2的設計要求，SDH英文為side-drilled hole,準確理解是長橫孔。
      
所以CSK-IIIA試塊只適合5MHz及其以上的探頭使用是不對的。
      
作者: yanyingjuanli    時間: 2015-9-17 22:08
      

      胡宏宇 發表于 2015-9-17 05:33
      
CSK-IIIA要滿足EN583-2的設計要求檢測，用5MHz以上，學校里面卻用2.5P8×9的橫波探頭在CSK-IIIA試塊上做DAC ...

      
我想表達的是：設計參考試塊是不是根據EN583-2來設計就可以了？是否還需要考慮其他條件，如側面或底面干涉？（因為我發現EN583-2好像沒考慮底面干涉，）如果只根據EN583-2來設計，那CSK-IIIA試塊中的反射體是否設計合理？
      

      
作者: Xueliang    時間: 2015-9-18 17:28
      
什么學校？瞎搞的
      
作者: 王緒軍    時間: 2015-9-18 23:43
      
CSK-IIIA試塊中的Φ1*6短橫孔是根據Φ2平底孔計算出來的！是中國的前輩在超聲波檢測領域的發明創造，已經使用了幾十年，實際證明效果不錯。橫孔和短橫孔不是一個概念。
      
作者: yanyingjuanli    時間: 2015-9-19 14:24
      

      王緒軍 發表于 2015-9-18 23:43
      
CSK-IIIA試塊中的Φ1*6短橫孔是根據Φ2平底孔計算出來的！是中國的前輩在超聲波檢測領域的發明創造，已經使 ...

      
謝謝解答。那是否可以理解成，遠場中，CSK-IIIA試塊上的φ1×6短橫孔相當于平底孔φ2？
      

      
作者: yanyingjuanli    時間: 2015-9-19 14:28
      

      Xueliang 發表于 2015-9-18 17:28
      
什么學校？瞎搞的

      
學校不差，應該是我學藝不精
      

      
作者: 檢驗計劃    時間: 2015-9-23 11:39
      
這是一個有趣的話題。支持樓主。
      
作者: ccbq    時間: 2015-9-25 14:22
      
博大精深！學習
      
作者: luolang1314    時間: 2015-9-28 10:45
      
引申一下：由于NB/T 47013.3-2015推薦采用CSK-2A 試塊（fai 2長橫孔）針對6-200mm厚工件焊縫進行檢測，由于當下大部分企業均有CSK-3A試塊，而較少用到CSK-2A試塊，雖然標準允許當工件厚度在6-120mm采用3A試塊按照附錄進行檢測，但是很多制造企業擔心靈敏度不一致，會引起結果評定出現一定分歧。我的問題是理論上相同待檢工件厚度情況下這兩種試塊掃查靈敏度有什么不同？誰高？高多少？結果評定會有影響嗎？如何采用試驗的方式驗證自己的想法？另外，采用3A試塊能否通過補償或降低增益，使得掃查靈敏度不低于（或者相等于）2A試塊調節的靈敏度？
      
作者: zongjian6498    時間: 2015-10-12 15:40
      
提的好




      

      

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