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      標題: DGS方法中斜探頭的傳輸修正 [打印本頁]

      作者: yanyingjuanli    時間: 2016-12-10 20:59
      標題: DGS方法中斜探頭的傳輸修正
      在斜探頭的DGS方法中,當沿圓周方向進行檢測圓柱體大型鍛件時,當我們利用IIW試塊或者IIW2試塊校正靈敏度后,如何對斜探頭進行傳輸修正(包括表面補償和聲衰減)?

      作者: 大愛人間    時間: 2016-12-21 11:59
      前輩您好:
             “在斜探頭的DGS方法中”我是否可以理解為常用的DAC曲線為檢測靈敏度來檢測的,或者是實用AVG曲線。可否這樣做:在所用探頭的最大檢測范圍(聲程)上,在試件相同的聲程上做一個相同的標準反射體,在檢測靈敏度時掃查該標準反射體,波高與靈敏度曲線比較,得到△dB.但是這個方法只適用于材質(zhì)衰減小的工件或?qū)μ筋^的最大檢測范圍的缺陷的評定。
           望前輩賜教!
      作者: yanyingjuanli    時間: 2016-12-24 10:19
      大愛人間 發(fā)表于 2016-12-21 11:59
      前輩您好:
             “在斜探頭的DGS方法中”我是否可以理解為常用的DAC曲線為檢測靈敏度來檢測的,或者是實 ...

      也可以適用于材質(zhì)較大的材料,這個時候就需要考慮聲衰減了

      作者: 大愛人間    時間: 2016-12-25 11:25
      yanyingjuanli 發(fā)表于 2016-12-24 10:19
      也可以適用于材質(zhì)較大的材料,這個時候就需要考慮聲衰減了

      是的!

      作者: 大愛人間    時間: 2016-12-25 11:27
      yanyingjuanli 發(fā)表于 2016-12-24 10:19
      也可以適用于材質(zhì)較大的材料,這個時候就需要考慮聲衰減了

      請教前輩所提出的問題的方法!謝謝!

      作者: 大愛人間    時間: 2016-12-25 11:27
      yanyingjuanli 發(fā)表于 2016-12-24 10:19
      也可以適用于材質(zhì)較大的材料,這個時候就需要考慮聲衰減了

      請教前輩所提出的問題的方法!謝謝!

      作者: 阿克    時間: 2024-2-28 21:33
      但大多數(shù)情況是試塊和工件尺寸不一致阿。
      作者: yanyingjuanli    時間: 2024-3-1 08:40
      阿克 發(fā)表于 2024-2-28 21:33
      但大多數(shù)情況是試塊和工件尺寸不一致阿。

      所以需要修正啊

      作者: zjaitxia11    時間: 2024-3-21 22:07
      一般用斜探頭的條件是內(nèi)孔已經(jīng)加工,目的:檢測外表面的裂紋,角度一般是38度或者45.如果是GE的設(shè)備直接生成曲線不做衰減補償,雖然聲程很遠。

      且一般驗收按照EN10228-3驗收級別4級,表面要求已經(jīng)很高。沒有必要做傳輸修正

      另外你還可以做UT工藝明確操作流程。附件是我們之前一個項目外表面用45度做的實驗(在報廢大軸,距離邊緣5mm鉆孔用45度和38度檢驗均能發(fā)現(xiàn))



      作者: yanyingjuanli    時間: 2024-3-23 16:34
      zjaitxia11 發(fā)表于 2024-3-21 22:07
      一般用斜探頭的條件是內(nèi)孔已經(jīng)加工,目的:檢測外表面的裂紋,角度一般是38度或者45.如果是GE的設(shè)備直接生 ...

      做不做聲衰減主要取決于材質(zhì)吧。
      另外,第一幅圖中代表的是無人工反射體SDH的back echo,對么?

      作者: zjaitxia11    時間: 2024-3-25 21:42
      鍛件一般材質(zhì)較細,所以斜探頭的目的不是當量而是危害性缺陷。當然取決于合同,工藝要求。


      第一張圖是沒有缺陷的回波。





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