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       微波和毫米波信號的頻率范圍為300兆赫到300千兆赫，對應波長范圍為1000毫米到1毫米。這些頻率的信號很容易穿透電介質材料和復合材料，并與內部結構相互作用。在電介質材料和復合材料內部，與內部結構相互作用。與這些信號相關的相對較小的波長和寬的帶寬能夠產生高空間分辨率的材料和結構圖像。結合透鏡聚焦和近場技術等成像技術，合成孔徑聚焦，基于更先進和獨特的毫米波成像系統的魯棒反向傳播算法的航空攝影方法，帶來了這個領域的一系列活動，特別是無損評估（NDE）應用。這些成像系統和技術已成功地應用于廣泛的關鍵無損檢測相關的應用。

       盡管近場技術在過去也被廣泛地應用于這些應用中，但由于改變了距離和圖像制作過程的緩慢性，導致了一些新穎的、自動的距離變化消除技術。最終，成像技術必須產生高分辨率的3D圖像，成為實時的，并使用便攜式系統實現。為此目的，為了加快成像過程，同時提供高分辨率圖像，幾年前演示了一種由576個共振槽元件組成的6“6”單鏡頭快速便攜式成像系統（微波攝像機）的設計和演示。隨后，人們致力于設計和實現這種成像系統的幾種不同的變化，以適應單邊和單聲道靜態成像，同時利用非均勻快速掃描對象，以及將工作頻率提高到更高的毫米波頻率，從而實現三維圖像生成。這些努力已經開發出一種實時、便攜、高分辨率和三維成像微波攝像機，其工作在最近完成的20-30 GHz頻率范圍內。本文介紹了這些技術的概況，并列舉了幾個典型的例子，這些成像技術有效地為許多關鍵的NDE問題提供了可行的解決方案。

       R. Zoughi獲得了他的電機工程學士學位，電機工程學碩士和博士學位，他在美國堪薩斯大學電子工程（雷達遙感、雷達系統和微波）的電氣工程專業博士學位，從1981年到1987年，他都在雷達系統和遙感實驗室（RSL）中工作。隨后，在1987年，他加入了科羅拉多州立大學（基社盟）的電氣和計算機工程系，在那里他建立了應用微波無損檢測實驗室（amntl）。1995年至1997年期間，他在基社盟任職，擔任電子與計算機工程專業教授。2001年，他加入了密蘇里科技大學的電氣與計算機工程系，前身為密蘇里大學羅拉分校（UMR），作為斯倫貝謝公司的特聘教授。他現在的研究領域包括以下幾方面：

（1）為微波和毫米波測試和評估的材料開發新的無損技術；

（2）開發新的電磁探針和傳感器測量特征屬性的材料在微波頻段；

（3）開發嵌入式調制散射取決于目的的技術和實時高分辨率成像系統的發展。

       他是《微波無損檢測和評估原理》的作者，并在一本名為“非破壞性評價：理論、技術和應用”的本科生入門教科書中，合著了一章關于微波技術的文章。他在基社盟和密蘇里科技大學獲得了無數的教學獎項。他是超過590篇期刊論文，會議記錄，演講和技術報告的合著者。他在微波無損檢測和評估領域擁有18項專利。他是2007年IEEE儀表和測量學會杰出服務獎的獲得者，2009年美國無損檢測協會（ASNT）的持續卓越研究獎，以及2011年IEEE Joseph f.Keithley在儀器和測量方面的獎項。在2013年，他和他的合作者們獲得了美國電子與工程學會的電子和傳播學會（APS）的論文，該獎項與24 GHz的實時微波相機的設計有關。他是美國電子與電子工程師協會（IEEE）的研究員，美國無損檢測協會（ASNT）的成員，并擔任IEEE測量與測量（2007-2011）和IEEE儀表測量學會（2014-2015）的主席。目前，他是IEEE國際儀表和測量技術會議（I2MTC）的主席。他曾任職于IEEE技術活動委員會（TAB）出版物服務與產品委員會（PSPB）（2015年，2017-2018），被選為一個大型的IEEE PSPB成員（2016-2018），并且是IEEE Xplore平臺指導小組的成員。

（譯者注：可能有翻譯的不到位的地方，煩請諒解，原文見附件）