TOFD圖像缺陷自身高度測(cè)量方法求教？

大家好，TOFD圖像缺陷如果上尖端和下尖端的信號(hào)疊加在一起該如何測(cè)量缺陷的自身高度呢？

經(jīng)過(guò)實(shí)踐，采用相位相反最高波測(cè)量法測(cè)量上下尖端信號(hào)疊加在一起的情況，即：
觀察缺陷回波A掃信號(hào)，找到正相位的最高波點(diǎn)和負(fù)相位最高波點(diǎn)，兩點(diǎn)之間的深度差即缺陷的自身高度。
不知這種方法是否可行，請(qǐng)大家多多賜教。謝謝！

上尖端和下尖端的信號(hào)疊加在一起說(shuō)明缺陷的自身高度相當(dāng)小，而且小于系統(tǒng)厚度方向的分辨力極限。本人意見(jiàn)該類缺陷無(wú)須精確測(cè)量高度，給出高度小于一定值的描述即可。
FURULONG描述的方法僅在衍射波振動(dòng)周期次數(shù)較少，缺陷的高度有一定的值的狀況下可能成立。

回復(fù) 丁偉臣 的帖子


      謝謝丁工的建議。最近研究發(fā)現(xiàn)：
      假設(shè)：工件聲速一定，缺陷自身高度一定，信號(hào)脈沖寬度一定，PCS一定；則，缺陷所處的深度不同，缺陷的上下尖端信號(hào)有可能疊加，也有可能不疊加。
      如：工件聲速5930m/s，缺陷自身高度5mm，信號(hào)脈沖寬度0.4us，PCS為100mm，理論計(jì)算：缺陷深度在10mm時(shí)上下尖端信號(hào)會(huì)疊加，缺陷深度在15mm時(shí)上下尖端信號(hào)不會(huì)疊加。
      因此，缺陷上下尖端信號(hào)疊加并不一定是因?yàn)槿毕莸淖陨砀叨群苄?，缺陷所處的深度也?huì)影響，所以，是否需要精確測(cè)量缺陷的自身高度，需要考慮：一、信號(hào)脈沖寬度；二、PCS設(shè)置；三、缺陷所處的深度。
      總之，離掃查面越近的缺陷，上下尖端信號(hào)越有可能疊加。
      歡迎大家多多交流，共同推廣TOFD檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用。

    我同意furulong的說(shuō)法，比如同一個(gè)圖像中，在同一深度的缺陷回波黑白條的寬度和周期數(shù)不一定完全一樣。我認(rèn)為回波的寬度和周期數(shù)代表了回波的主要頻率范圍，而影響回波的頻率我認(rèn)為有兩個(gè)因素：
    1、缺陷的尺寸——如果回波位置的缺陷尺寸非常小，則低頻信號(hào)對(duì)其實(shí)“透明”的，回波應(yīng)以高頻為主，則黑白條的寬度較小，周期數(shù)較多。
    2、缺陷的位置——若缺陷尺寸足夠大，則影響回波頻率的取決于其位置?？拷髀暿浇娜毕莼夭ㄒ愿哳l信號(hào)為主，則黑白條寬度小。遠(yuǎn)離主聲束的缺陷回波以低頻信號(hào)為主，黑白條寬度大。
    若以上說(shuō)法正確，則找正相位最高波和負(fù)相位最高波的方法應(yīng)該可行（實(shí)踐中我也經(jīng)常這么做），但需注意上下斷點(diǎn)間的相位差應(yīng)大于等于直通波的周期數(shù)，因?yàn)橹蓖úㄌ幍念l率最低。

虛心學(xué)習(xí)

在這個(gè)問(wèn)題的觀點(diǎn)上，我贊同hebutszb和furulong兩位先生的意見(jiàn)。但建議hebutszb先生將“主聲束”改為“主聲軸”，這樣比較嚴(yán)瑾。因?yàn)檎凵渎暿环种?、副聲束吧？不知我這一意見(jiàn)當(dāng)否？

回復(fù) 李濟(jì)科 的帖子


    接受，謝謝

從理論上說(shuō)，TOFD技術(shù)的分辨力是2-3mm，如果缺陷高度更小，該技術(shù)是無(wú)能為力的。如果缺陷高度在2-3mm以上卻不能分辨，就應(yīng)該設(shè)法改進(jìn)工藝或設(shè)備性能，例如，采用更高頻率，性能更好探頭，以及設(shè)法擴(kuò)大時(shí)間窗口的工藝參數(shù)。
如果能看到具體掃描圖，就有可能提出具體措施。這里只能泛泛而談了。

上次表達(dá)"上尖端和下尖端的信號(hào)疊加在一起說(shuō)明缺陷的自身高度相當(dāng)小，而且小于系統(tǒng)厚度方向的分辨力極限。本人意見(jiàn)該缺陷無(wú)須精確測(cè)量高度，給出高度小于一定值的描述即可。"中缺少了前提條件：符合檢測(cè)要求經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的檢測(cè)規(guī)程，即已經(jīng)根據(jù)實(shí)際檢測(cè)需要考慮選擇了符合要求的系統(tǒng)深度分辨力.