儀器的掃查靈敏度不變，改換不同頻率探頭,...

    例如，原來的掃查靈敏度是頻率為2.5MHz的直探頭，發(fā)現(xiàn)缺陷當(dāng)量為2mm;后來換成2MHz或1.25MHz，但距離波幅曲線未變(還是2.5MHz探頭的)，儀器的掃查靈敏度未變(發(fā)射強(qiáng)度，增益衰減等狀態(tài)未變)。請(qǐng)問: 檢測(cè)結(jié)果---缺陷當(dāng)量，可能會(huì)出現(xiàn)什么變化呢？(謝謝下面這位朋友，根據(jù)他的回復(fù)，我進(jìn)行了修改)

李濟(jì)科 發(fā)表于 2013-3-18 16:13
我發(fā)這個(gè)帖子的目的，是想討論另一個(gè)帖子提出的問題。另一個(gè)帖子，即kgkevin 先生的帖子《直探頭頻率大小對(duì) ...

我換不同頻率探頭的時(shí)候，AVG曲線是按照當(dāng)前探頭分別制作的。

近場(chǎng)區(qū)變大，分辨力變差，最小可檢出的缺陷大小變大（這里的大小應(yīng)該是垂直于超聲傳播方向的缺陷大?。?/td>

不變！{:soso_e100:}

同晶片尺寸的探頭，近場(chǎng)區(qū)變小才是。探頭檢出的缺陷的理論最小尺寸變大，但是實(shí)際缺陷檢出情況，則視待檢材料晶粒尺寸和探頭頻率“匹配”情況而定。對(duì)于粗晶材料，有文獻(xiàn)指出，波長(zhǎng)大于十倍平均晶粒尺寸為可檢條件。

丁偉臣 發(fā)表于 2013-3-17 19:12
不變！

頻率變小↓>波長(zhǎng)變長(zhǎng)↑近場(chǎng)區(qū)變小↓>聲束擴(kuò)散角變大↑>橫向分辨率變差↓>理應(yīng)回波降低↓;
但是頻率變小↓>也伴隨著衰減變小↓>，回波又有可能升高↑。
所以可能出現(xiàn)不同情況。
丁工：不變的原因可以解釋下嗎？如果不變那我們豈不是可以對(duì)多個(gè)探頭只做一個(gè)dac曲線？

近場(chǎng)區(qū)變小，已改正！

謝謝以上朋友參與討論！尤其謝謝楓林晚先生的實(shí)驗(yàn)??！關(guān)鍵問題是:怎么用理論來解釋他這個(gè)實(shí)驗(yàn)？

是不是跟計(jì)算公式有關(guān)系

楓林晚先生的觀點(diǎn)，基本正確。希望去查查平底孔反射聲壓公式，詳細(xì)說明。

我發(fā)這個(gè)帖子的目的，是想討論另一個(gè)帖子提出的問題。另一個(gè)帖子，即kgkevin 先生的帖子《直探頭頻率大小對(duì)鍛件缺陷當(dāng)量的影響》。