相控陣缺陷尺寸測量的問題

在研究相控陣聚焦法則的原理時，發現在線掃或在扇掃圖像上直接測量缺陷的二維尺寸，可能不精確的問題，如圖：發射聲束為黑色線，合成聲束為粗的一條紅線，缺陷偏離合成聲束。雖然缺陷偏離合成聲束，但是缺陷的反射回波仍然可以被探頭接收，所以合成的聲束信息里也包括缺陷的信息。這樣，不管是扇掃圖像，抑或是線掃圖像，如果缺陷不在發射聲束的聚焦點上，則缺陷的尺寸就有可能被放大，因此在扇掃圖像或者線掃圖像測量缺陷的長度或寬度就會存在較大的誤差。歡迎大家參與這個問題的討論，在扇掃或線掃的圖像上能否對缺陷的尺寸進行測量，測量的誤差有多大？

當然可以對缺陷定量，誤差嘛，不好說，很多因素影響，例如校準的好壞等

估計你是搞電子或者軟件背景的吧。
建議從空間聲場分布的角度來考慮問題。
分辨率和電子聚焦之間的關系。

如果不是使用特征點測量的方法（例如尖端衍射信號）的話，誤差會很大。缺陷在相控陣掃描圖像上的成像跟很多因素有關，比如波束的擴散特性，角度的準確性，缺陷的走向等。個人不認為這些成像顯示能直接進行缺陷定量測量，很簡單的道理，同樣的一個缺陷，如用大角度部分去測，和用小角度部分去測，很可能得出完全不同的大小。

謝謝大家的分享意見，也就是說，其實相控陣所成的圖像還不能真正反映缺陷的輪廓情況，換句話說，很難根據相控陣圖像對缺陷進行定性。

furulong 發表于 2013-5-17 15:29
謝謝大家的分享意見，也就是說，其實相控陣所成的圖像還不能真正反映缺陷的輪廓情況，換句話說，很難根據相 ...

如果相控陣很難對缺陷定性，那常規超聲就更難。

{:soso_e163:}

我還是一頭霧水，我這樣理解正確嗎？相控陣技術也并不能很精確地對缺陷進行定量，在對缺陷進定量時，比如運用端點6dB法，，其實和常規是一樣的。是不是這樣理解？望各位牛人解答疑惑