標準太深奧，一個困擾我的疑惑

JB/T5000.15-2007術語和定義中規定：
單個缺陷：間距大于50mm，當量直徑不小于起始記錄當量的缺陷。
密集區缺陷：在熒光屏掃描線相當于50mm聲程范圍內同時有五個或五個以上缺陷反射信號；或在50mm*50mm檢測面上同一深度內有五個或五個以上缺陷反射信號。


1.那么以II級為例子，假如有3個缺陷，深度在110~130mm范圍內，當量在2~3mm之間，屬于需要記錄的缺陷，但間距小于50mm，那這3個缺陷不滿足單個缺陷也不滿足密集區缺陷定義。。屬于何種缺陷？如果說是多個缺陷，又如何質量分級？
2.再假設，有兩對缺陷，每對為3個（每對50mm*50mm檢測面），深度在110~130mm范圍內，當量在2~3mm之間。兩對缺陷間距如圖，又作何判定？

這個問題提的好。評為2級的。

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原來記得蘇州UT考試培訓時，還有另外一類缺陷：分散性缺陷，就是對樓主所說這一類缺陷；但在4730中也沒有定義，好象是姚志忠老師提出來的

是不是按單個， 然后把缺陷換算成面積但檢測面的百分比比來評定？

{:soso_e179:}