一個企業(yè)的提問：鍛件超聲檢測驗收的問題

一個企業(yè)的提問——大亮<[email protected]

關(guān)于JB/T4730.3-2005超聲波檢驗中有關(guān)專業(yè)術(shù)語及驗收級別中若干問題的解答。

例：一鍛件，規(guī)格1305×920×1300，材質(zhì)F22,驗收標準JB/T4730.3-2005-4.2款項執(zhí)行。要求探傷靈敏度不得低于φ2mm當(dāng)量基準反射體波幅。驗收級別：單個缺陷Ⅱ級；密集區(qū)缺陷區(qū)Ⅰ級；底波降低量Ⅰ級。

檢驗結(jié)果：

在檢驗中發(fā)現(xiàn),在100mm×150mm范圍內(nèi),存在密集區(qū)缺陷。其反射波幅超過φ2mm當(dāng)量基準反射體波高12～14dB，缺陷當(dāng)量均在φ2～3mm范圍之內(nèi)。在檢驗評定時，雙方(以下簡稱甲、乙方)產(chǎn)生疑問：

1. 依照標準,現(xiàn)檢驗出來的缺陷面積,缺陷幅值,缺陷當(dāng)量,雙方意見一致。

2. 甲方：只是說允許φ3mm當(dāng)量缺陷存在，不能說它不是密集區(qū)缺陷，依據(jù)標準JB/T4730.3-2005-4.2.9.2規(guī)定, 小于φ3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)不計就不算密集區(qū)缺陷。

   乙方：依據(jù)標準JB/T4730.3-2005-4.2.10.3規(guī)定，Ⅰ級密集區(qū)

缺陷為零，即不存在。

3. 甲方：依據(jù)標準JB/T4730.1-2005-3.16第三條規(guī)定，其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準反射波幅是φ3mm 。

     乙方：依據(jù)標準JB/T4730.3-2005- 4.2.6.3一般不得低于最大檢測距離處φ2mm平底孔當(dāng)量直徑。我們計算出來的缺陷當(dāng)量也是以φ2mm為基準的。

4. JB/T4730.3-2005-4.2若干條規(guī)定，單個缺陷，密集區(qū)缺陷，底波降低量的記錄是說允許這些缺陷存在或不允許存在而進行的記錄，是評定缺陷等級的依據(jù)，這種說法對嗎？

     諸上問題懇請專家給予解答和幫助，我們表示誠摯謝意！

強老師。。。

1:首先確認缺陷深度。

A:反射波幅超過φ2mm當(dāng)量基準反射體波高12～14dB。要確認缺陷深度。
1：按照聲壓算出缺陷實際大小。
B:在檢驗中發(fā)現(xiàn),在100mm×150mm范圍內(nèi),存在密集區(qū)缺陷
1：我記得4730規(guī)定好像是50*50范圍 記錄大于大于3MM的單獨缺陷。
C:I級密集區(qū)缺陷為零，即不存在。
1：這好像不合理。可以出現(xiàn)單個缺陷或者小于幾個以內(nèi)的缺陷。只有大于等于5個規(guī)定缺陷大小才算密集缺陷。
D:JB/T4730.3-2005-4.2若干條規(guī)定，單個缺陷，密集區(qū)缺陷，底波降低量的記錄是說允許這些缺陷存在或不允許存在而進行的記錄，是評定缺陷等級的依據(jù)，這種說法對嗎？
特別是底波降低是比較合理。
我個人認為合理。
以上FYI.

有點意思，等待結(jié)果公布中！

2. 甲方：只是說允許φ3mm當(dāng)量缺陷存在，不能說它不是密集區(qū)缺陷，依據(jù)標準JB/T4730.3-2005-4.2.9.2規(guī)定, 小于φ3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)不計就不算密集區(qū)缺陷。
   乙方：依據(jù)標準JB/T4730.3-2005-4.2.10.3規(guī)定，Ⅰ級密集區(qū)缺陷為零，即不存在。
我的觀點：我贊同甲方的意見。在50mm聲程范圍內(nèi)或50*50mm檢測面上同一深度范圍內(nèi)有：大于φ3mm當(dāng)量直徑的缺陷有5個及以上時才算是密集區(qū)缺陷，否則不算密集區(qū)。乙方所說的“Ⅰ級密集區(qū)缺陷為零”，這個零是一種相對的不存在，并不是絕對的不存在，即：首先要存在符合“密集區(qū)”定義的缺陷區(qū)域。
3. 甲方：依據(jù)標準JB/T4730.1-2005-3.16第三條規(guī)定，其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準反射波幅是φ3mm 。
     乙方：依據(jù)標準JB/T4730.3-2005- 4.2.6.3一般不得低于最大檢測距離處φ2mm平底孔當(dāng)量直徑。我們計算出來的缺陷當(dāng)量也是以φ2mm為基準的。
我的觀點：我比較贊同甲方觀點，即對餅形鍛件其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準反射波幅是指φ4mm這一特定當(dāng)量 ，對其它鍛件其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準反射波幅是指φ3mm 這一特定當(dāng)量。以最大檢測距離處φ2mm平底孔當(dāng)量直徑作為基準，可以得出某一深度上的缺陷當(dāng)量值，當(dāng)此深度上的缺陷當(dāng)量值大于或等于特定當(dāng)量值時，且符合密集區(qū)的定義時，這時作為密集區(qū)缺陷進行記錄，并評定級別。
4. JB/T4730.3-2005-4.2若干條規(guī)定，單個缺陷，密集區(qū)缺陷，底波降低量的記錄是說允許這些缺陷存在或不允許存在而進行的記錄，是評定缺陷等級的依據(jù)，這種說法對嗎？
我的觀點：我認為這種說法是對的。

關(guān)鍵在于我們密集顯示的評定依據(jù)不夠清晰，而且個人認為在50mm聲程范圍內(nèi)或50*50mm檢測面上同一深度范圍內(nèi)有：大于一定當(dāng)量直徑的缺陷有5個及以上時才算是密集區(qū)缺陷，實際操作有點困難和不科學(xué)。比如一個有延展性顯示，貫穿整個檢測區(qū)域，但其是一個顯示或單個點狀的顯示等同對待嗎？
按照標準來說，支持YXF的觀點！

丁工所講的“有延展性顯示貫穿整個檢測區(qū)域的缺陷”是否可以理解為缺陷本身的高度較大（從入射聲速方向上看）？如果是這樣的話，在檢測時，當(dāng)具有與原檢測面1相垂直的檢測面2時，此時從檢測面2應(yīng)該不難發(fā)現(xiàn)這個延展性的缺陷，從檢測面2對缺陷作評定的話是否更恰當(dāng)一點？不知我的理解對否？

在檢驗中發(fā)現(xiàn),在100mm×150mm范圍內(nèi),存在密集區(qū)缺陷。其反射波幅超過φ2mm當(dāng)量基準反射體波高12～14dB，缺陷當(dāng)量均在φ2～3mm范圍之內(nèi)。在檢驗評定時，雙方(以下簡稱甲、乙方)產(chǎn)生疑問：

1. 依照標準,現(xiàn)檢驗出來的缺陷面積,缺陷幅值,缺陷當(dāng)量,雙方意見一致。

2. 甲方：只是說允許φ3mm當(dāng)量缺陷存在，不能說它不是密集區(qū)缺陷，依據(jù)標準JB/T4730.3-2005-4.2.9.2規(guī)定, 小于φ3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)不計就不算密集區(qū)缺陷。

   乙方：依據(jù)標準JB/T4730.3-2005-4.2.10.3規(guī)定，Ⅰ級密集區(qū)
支持甲方觀點
3. 甲方：依據(jù)標準JB/T4730.1-2005-3.16第三條規(guī)定，其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準反射波幅是φ3mm 。

     乙方：依據(jù)標準JB/T4730.3-2005- 4.2.6.3一般不得低于最大檢測距離處φ2mm平底孔當(dāng)量直徑。我們計算出來的缺陷當(dāng)量也是以φ2mm為基準的。
按照JB/T4730.1-2005-3.16的密集缺陷的定義 以及JB/T4730.3-2005 4.2.9缺陷記錄對于密集缺陷4.2.9.2的標準其他鍛件應(yīng)記錄大于或者等于φ3當(dāng)量直徑的密集區(qū),綜上看 甲方觀點是正確的
4. JB/T4730.3-2005-4.2若干條規(guī)定，單個缺陷，密集區(qū)缺陷，底波降低量的記錄是說允許這些缺陷存在或不允許存在而進行的記錄，是評定缺陷等級的依據(jù)，這種說法對嗎？
是

總體來看 甲方觀點在標準上有事實和理論根據(jù), 根據(jù)您的描述
在檢驗中發(fā)現(xiàn),在100mm×150mm范圍內(nèi),存在密集區(qū)缺陷。其反射波幅超過φ2mm當(dāng)量基準反射體波高12～14dB，缺陷當(dāng)量均在φ2～3mm范圍之內(nèi)。
該缺陷 顯然是符合JB/T4730.1-2005-3.16關(guān)于 密集缺陷的定義的  但是根據(jù)判定標準的規(guī)定 顯然不符合 JB/T4730.3中4.2.9.2 其他鍛件應(yīng)記錄大于或者等于φ3當(dāng)量直徑的密集區(qū)的 要求 如果乙方無法證實該密集缺陷的最大當(dāng)量大于φ3mm則該缺陷則不能作為不合格的依據(jù)  

我想表達我們對超聲缺陷的分類中，點狀和有尺寸的顯示分別不清，但其危害性大不相同！