關于試塊問題

不知道大家有沒有碰到過天天要用的試塊（一組同一材質同一廠家不同厚度），在用低頻探頭測厚度時達某一基準波高（例如80％）能用，而用高頻探頭測厚時卻發(fā)現(xiàn)厚的能測（例如220mm）薄的測厚時都衰減了（例如110mm），只有時基線顯示。整個測試過程分貝值沒變。請問大家這組同材質不同厚度的長橫孔試塊我該用什么方法來解決現(xiàn)場實際探傷的校準（長橫孔探傷校準）？