NB/T 47013.10(JB/T 4730.10)的討論

在本標(biāo)準(zhǔn)中，有關(guān)缺陷自身高度的標(biāo)注和它的定義不符。
1  標(biāo)準(zhǔn)第2頁，缺陷自身高度的定義：缺陷沿X軸方向，上、下端點(diǎn)在Z軸投影間的最大距離，見圖2中的h。
2  標(biāo)準(zhǔn)第3頁，缺陷自身高度h的標(biāo)注并不是投影的最大距離。
3  標(biāo)準(zhǔn)第13頁，缺陷自身高度h的標(biāo)注同樣不是投影的最大距離。

我感覺缺陷自身高度h的標(biāo)注，上端點(diǎn)應(yīng)該在缺陷深度的那個(gè)點(diǎn)，不知我的理解是否對(duì)？

希望知道情況的幫忙解析一下，到底是不是標(biāo)注錯(cuò)誤？ 或者該怎么解析？謝謝。

看不太懂,水個(gè)帖子

大大的贊，學(xué)習(xí)啦謝謝

{:soso_e100:}

看了一些國(guó)外的標(biāo)準(zhǔn)，英國(guó)和歐盟關(guān)于缺陷的自身高度也是像我們的標(biāo)準(zhǔn)這么定義的，美國(guó)ASME2235-9的缺陷標(biāo)注都是用一個(gè)矩形來標(biāo)注。可能是先入為主吧，以為我們的標(biāo)準(zhǔn)也是用一個(gè)矩形把缺陷框起來，這樣高度和長(zhǎng)度就都知道了，這種方法操作簡(jiǎn)便。
希望大家在使用的過程中多多交流。

回復(fù) hebutszb 的帖子


      根據(jù)hebutszb的說法還是挺好理解的，但是在實(shí)際檢測(cè)的過程中如果要確定一個(gè)缺陷的自身高度那就太難了，而且比較麻煩。我感覺這種定義有點(diǎn)不符合實(shí)際的檢測(cè)要求。
      不知大家有什么不同的意見？
      謝謝hebutszb的解釋。

    該標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)缺陷高度的測(cè)量方法應(yīng)該是，用Y軸與Z軸組成的平面，沿X軸方向移動(dòng)，所截取的缺陷的高度的最大值。也就是相當(dāng)于在第3頁圖2中一條平行于Z軸的直線，沿X軸方向移動(dòng)，缺陷所截取的直線段的最大距離，即為缺陷自身高度h。
    僅看標(biāo)準(zhǔn)3.10條，確實(shí)比較難理解，但是11.5.3.1還是說得挺清楚的。