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需要A-Scan圖作分析

{:soso_e179:}

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同意樓上觀點(diǎn)，可能晶粒粗大造成聲波衰減嚴(yán)重

鑄件上很容易出現(xiàn)這種情況的，晶粒度估計(jì)較粗！

鑄件的檢測(cè)狀態(tài)、鑄件形狀、R等因素決定了缺陷二次波的顯示高度。

一次波太低，材質(zhì)衰減嚴(yán)重，二次波可能很小

缺陷的性質(zhì)、探頭聲束形狀和底波反射狀態(tài)等因素決定了缺陷二次波的顯示高度！

{:soso_e179:}