TOFD檢驗中標(biāo)準(zhǔn)試塊、參考試塊和模擬試塊的不同應(yīng)用

只看該作者 · 2012-10-30 10:07:13

上周，接受國內(nèi)一知名壓力設(shè)備制造企業(yè)的申請，對該公司TOFD無損檢測人員進(jìn)行按照PED 97/23/EC的資格批準(zhǔn)考核工作。執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)NB4730和EN14751&EN 15617。該公司在過去的1年里，已從事TOFD掃查大約5000米，應(yīng)該講具有了豐富的現(xiàn)場經(jīng)驗。但審核過程中，發(fā)現(xiàn)一些問題匯總?cè)缦拢┩袇⒖迹?br /> 1、校驗深度精度：
   在要求進(jìn)行深度精度校驗的時候，正確的操作----在標(biāo)準(zhǔn)試塊上，按照A超波形設(shè)定顯示時間窗口，初設(shè)PCS和聲速，采用直通波/底面反射或底面反射/變形波進(jìn)行校驗，采用逐步近似法修正PCS。校驗完成后，掃查標(biāo)準(zhǔn)試塊，讀取任一點(diǎn)直通波/底面反射波之間的深度差，要求精度在標(biāo)準(zhǔn)范圍之內(nèi)。
   現(xiàn)場發(fā)現(xiàn)：人員未掃查標(biāo)準(zhǔn)試塊，僅在校驗點(diǎn)進(jìn)行讀取數(shù)據(jù)，未進(jìn)行PCS修正以獲得更高的精度。
2、掃查參考試塊：
   參考試塊的目的用來驗證系統(tǒng)設(shè)定的正確性，主要為：上表面死區(qū)、各區(qū)的超聲覆蓋和底面盲區(qū)的確定（包括是否需要進(jìn)行偏置掃查等），要求所有的參考體必須可見。
   現(xiàn)場發(fā)現(xiàn)：掃查人員采用參考試塊進(jìn)行深度校準(zhǔn)，包括各反射體。但標(biāo)準(zhǔn)上由于分區(qū)僅是推薦性分區(qū)，如果情形變化，對分區(qū)之間的覆蓋確定不了解，反之，對同一厚度的工件不同的分區(qū)方法，應(yīng)采用的參考試塊的設(shè)計不熟悉。
3、模擬試塊的使用：
   現(xiàn)場未進(jìn)行模擬試塊的掃查。
   模擬試塊的采用可驗證該系統(tǒng)對不同位置、不同走向、不同類型缺陷的檢測可靠性！標(biāo)準(zhǔn)僅規(guī)定了一些基本的原理和方法，具體的應(yīng)用應(yīng)按照具體的檢測工件情況和儀器的設(shè)定進(jìn)行驗證。
4、顯示的評定：
   TOFD檢測最難的是顯示評定的定性，如果人為定義為裂紋、橫向裂紋、未熔合、未焊透實(shí)在有點(diǎn)牽強(qiáng)！TOFD信號可以借助縱波衍射信號、變形波信號及其影響底面反射等特性，大致分為表面開口或埋藏顯示。
   如何實(shí)現(xiàn)TOFD檢出顯示的精確定性，應(yīng)采用其它無損檢測輔助方法，比如手工超聲、射線和表面探傷等！
   現(xiàn)場發(fā)現(xiàn)：TOFD人員對顯示的評定具有很多成份的主觀評定，問之為何，回答：上課老師講的！無語！對于評定，采用NB標(biāo)準(zhǔn)/或EN標(biāo)準(zhǔn)，大部分人員對H1，H2和H3的意義理解不正確。