相控陣直探頭檢測(cè)-靈敏度的選擇

  今天在做相控陣直探頭檢測(cè)T=20mm平板，發(fā)現(xiàn)一個(gè)問(wèn)題：
1、隨著增益調(diào)大時(shí)，在B型圖像上出現(xiàn)了許多缺陷，通過(guò)看深度數(shù)值 都小于20mm， 該怎么去區(qū)分真實(shí)缺陷和未缺陷呢？？

{:soso_e163:}

看高手之間的對(duì)話可以學(xué)到好多啊~~~

Ansan 發(fā)表于 2013-5-23 11:28
首先一點(diǎn)相控陣能定量！但是目前的技術(shù)只是利用演變下來(lái)的TCG進(jìn)行定量。
但是它比常規(guī)超聲復(fù)雜性強(qiáng)，存 ...

工件中，不可能是完美無(wú)瑕的，都或多或少存在一些不連續(xù)，這些不連續(xù)也可能會(huì)在檢測(cè)圖像（如你說(shuō)的扇形掃描）上體現(xiàn)出來(lái)。
這是很正常的現(xiàn)象啊

天道酬勤 發(fā)表于 2013-5-30 11:42
好激烈啊 樓主你是用的奧林巴斯的儀器嗎？

不是！！用的是汕頭研究所的?。?br />

好激烈啊 樓主你是用的奧林巴斯的儀器嗎？

{:soso_e100:}

糟老頭子 發(fā)表于 2013-5-23 09:10
你覺(jué)得相控陣不能定量嗎？

首先一點(diǎn)相控陣能定量！但是目前的技術(shù)只是利用演變下來(lái)的TCG進(jìn)行定量。
但是它比常規(guī)超聲復(fù)雜性強(qiáng)，存在的幾何形狀相關(guān)圖示很多。   這就需要深入研究相控陣的原理（特別是在聲束上）+常規(guī)超聲反射和折射原理，綜合考慮才能不引起誤判。
所以在你提出的僅僅依據(jù)“根據(jù)DAC”來(lái)判定缺陷，這是我不附議的原因所在。
再舉個(gè)例子：
   假如使用直探頭檢測(cè)平板，發(fā)現(xiàn)了靈敏度的偏低的相關(guān)圖示，經(jīng)過(guò)參考了深度數(shù)值，相關(guān)圖示是在板材內(nèi)，但是波幅比我們預(yù)定TCG的波幅低。。
  但是我們并不能說(shuō)明缺陷，不存在。

Ansan 發(fā)表于 2013-5-22 23:38
我不敢茍同！
相控陣技術(shù)，存在許多幾何缺陷，類似柵瓣！
你覺(jué)得用‘檢出界限’來(lái)判別真實(shí)缺陷和未缺陷 ...

你覺(jué)得相控陣不能定量嗎？

Ansan 發(fā)表于 2013-5-22 23:38
我不敢茍同！
相控陣技術(shù)，存在許多幾何缺陷，類似柵瓣！
你覺(jué)得用‘檢出界限’來(lái)判別真實(shí)缺陷和未缺陷 ...

本來(lái)就是這樣判斷的，你看常規(guī)超聲做定量曲線（dac dgs），一樣的