關于曲面檢測的耦合補償

4730說檢測面是曲面時，應采用CSⅢ標準試塊來測定由于曲率不同而引起的耦合損失。
例如，我檢測Φ200的軸，那補償它的曲面耦合損失，具體應該如何操作，謝謝

楓林晚 發表于 2013-12-18 08:30
個人對CSIII試塊的功用表示疑惑。檢測有圓柱面的鍛件一般在CSI試塊上做好DAC，然后測試曲率補償。問題是CSI ...

此處的CSIII試塊用于在于，先用CSI型試塊調靈敏度，再用厚度差不多的CSIII，看低波降低多少，在適當補償。原在在于CSIII試塊補償的是發射入工件后的能量大致一樣。而缺陷一般用一次低波之前的波形計算，補償之后對于缺陷的定量影響不大。而軸型工件的兩曲面，與CSIII一曲面，不同之處，低波的高低有關，與缺陷的定量無關

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找出75-0，75-100兩試塊，使探頭耦合，最好有壓塊，比較一次底波的分貝差值，就是曲率補償值。
"R為工件曲率半徑的0.9~1.5倍”的提法和5.1.6.2 C)的說法大體一樣，我認為是錯的。剛好與ASME相反。

采用高級仿真軟件（例如CIVA）算一下！

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18dB （API）

沒做過 ，不知道。