tofd機器進行雙晶斜探頭檢測

如何設(shè)置儀器進行雙晶斜探頭進行檢測，規(guī)格是：3.5×20×2F6  P4Mhz，我應(yīng)該如何的用Φ2×40的對比試塊如圖進行DAC 的制作，因為探頭一上到儀器上初始波就會很多，再然后探頭掃過Φ2×40孔時會出現(xiàn)很寬的起伏的指示波，我就不知道該如何做DAC了，那就沒法進行檢測了。

學(xué)習(xí)一下。。。。。。

超聲版主真厲害！{:soso_e179:}

{:soso_e100:}

C5接頭即圖中連接雙晶探頭的接頭型式，Isonic 采用的是C5-C5連接探頭和儀器。用CSK-1A R50/R100調(diào)節(jié)雙晶探頭的聲速和零點；如果有IIW試塊 R25/R50調(diào)節(jié)應(yīng)該更好一些，F(xiàn)=6mm,要用專用試塊測試，一般是鉆有不同深度的橫孔試塊，從2mm深開始，固定某一合適靈敏度（增益）記錄不同孔深的回波波高，波幅最高的那個深孔代表該探頭實際焦點（當(dāng)然有一定誤差）。試塊可能也選用不當(dāng).

沒有波長這一調(diào)節(jié)項的。可能樓主將脈沖寬度當(dāng)成波長調(diào)節(jié)項了！
你檢測的材料是什么材料？如果底波較寬（層巒疊嶂）很可能為粗晶材料/反射底面較為粗糙，或者調(diào)節(jié)的參數(shù)不對。
你可以在CSK-1A試塊上射頻模式上依次調(diào)節(jié)：感抗匹配、阻抗匹配、濾波帶寬、脈沖寬度（PW）使得接收波形達到較小周期數(shù)，且正半周某一波幅最高；然后轉(zhuǎn)為全檢波模式做DAC曲線。
如果探頭模式不是為雙晶的情況下，那么始波附近雜波較多。選擇合適的檢測范圍，如果調(diào)試聲程較短，因儀器顯示失真，也會導(dǎo)致層巒疊嶂的現(xiàn)象，提高范圍這種情況會改善很多。另外，將C5接頭調(diào)換一下試試。
Isonic 2007主要是TOFD雙通道檢測用的，做A掃的時候掃查速度不要太快、深度B掃應(yīng)該沒什么大的影響。

激發(fā)參數(shù)中選項是雙晶的，可是接受參數(shù)中應(yīng)選有射頻，全波，正波，負波，頻譜，應(yīng)該怎么選，另外還有波長95nm，頻率，調(diào)校出的波形層巒疊嶂的，沒法象普通的DAC的那樣單個的高波峰做DAC啊。

是的呀，大家的眼睛是雪亮的，我再研究研究，大家踴躍發(fā)言

這個可以做A掃的！不過，并不比國產(chǎn)的儀器好用。特別是掃查速度快的情況下，容易丟失信號，且響應(yīng)有點慢。
模式?jīng)]有調(diào)對，單發(fā)單收的情況下，雙晶探頭前沿附近的雜波很難接受的！

把模式改成雙晶，做DAC和常規(guī)探頭一樣的