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看看這個解釋是否合適

不錯，學習了。

謝謝各位，學習了。{:soso_e179:}

初學者{:soso_e113:}

前來向各位學習了

楓林晚 發表于 2014-1-18 14:28
關于這個泄露回波 其實質是兩個晶片之間信號的互竄，也就是說發射晶片發出的聲波在靠近隔聲層方向有很小部 ...

這個聲波的位置取決于楔塊的縱波聲速以及楔塊的長度，而跟你檢測的材料沒有關系。

關于這個泄露回波 其實質是兩個晶片之間信號的互竄，也就是說發射晶片發出的聲波在靠近隔聲層方向有很小部分聲波沒有經過任何缺陷反射直接被接收晶片接受，形成回波。這個回波一般在熒光屏靠前端位置，在鋼介質中的聲程位置一般在0-5mm之間，波幅較低，如果探頭制作工藝不好，此波波幅高會對檢測近表面缺陷帶來干擾。

來學習了，謝謝分享

糟老頭子 發表于 2013-12-25 14:12
先來看看常規的延遲快直探頭（就是在接觸式直探頭前加裝有機玻璃塊）在延遲塊與工件接觸的地方會有一個界面 ...

正式因為雙晶是傾斜發射的，所以怎么會有這個回波我沒弄明白

先來看看常規的延遲快直探頭（就是在接觸式直探頭前加裝有機玻璃塊）在延遲塊與工件接觸的地方會有一個界面回波，這個界面回波的寬度就決定了表面的盲區大小。雖然雙晶直探頭是采用一發一收且兩個晶片是呈一定角度傾斜放置的，但這并不能完全杜絕和延遲塊直探頭相似的界面回波，當增益調的很大你就可以看到了。所以，這里的表面泄露回波高度，我想指的就是界面回波高度。