超聲波參考試塊

根據EN583-2（如圖片所示），橫孔的孔徑應該滿足D>1.5λ，那：CSK-IIIA試塊上的參考反射體φ1×6，孔徑是不是不符合該標準的？
問題2：EN583-2中，斜探頭的Deff怎么計算的，不然e>2×λ×S÷Deff怎么應用？

提的好

引申一下：由于NB/T 47013.3-2015推薦采用CSK-2A 試塊（fai 2長橫孔）針對6-200mm厚工件焊縫進行檢測，由于當下大部分企業均有CSK-3A試塊，而較少用到CSK-2A試塊，雖然標準允許當工件厚度在6-120mm采用3A試塊按照附錄進行檢測，但是很多制造企業擔心靈敏度不一致，會引起結果評定出現一定分歧。我的問題是理論上相同待檢工件厚度情況下這兩種試塊掃查靈敏度有什么不同？誰高？高多少？結果評定會有影響嗎？如何采用試驗的方式驗證自己的想法？另外，采用3A試塊能否通過補償或降低增益，使得掃查靈敏度不低于（或者相等于）2A試塊調節的靈敏度？

博大精深！學習

這是一個有趣的話題。支持樓主。

Xueliang 發表于 2015-9-18 17:28
什么學校？瞎搞的

學校不差，應該是我學藝不精

王緒軍 發表于 2015-9-18 23:43
CSK-IIIA試塊中的Φ1*6短橫孔是根據Φ2平底孔計算出來的！是中國的前輩在超聲波檢測領域的發明創造，已經使 ...

謝謝解答。那是否可以理解成，遠場中，CSK-IIIA試塊上的φ1×6短橫孔相當于平底孔φ2？

CSK-IIIA試塊中的Φ1*6短橫孔是根據Φ2平底孔計算出來的！是中國的前輩在超聲波檢測領域的發明創造，已經使用了幾十年，實際證明效果不錯。橫孔和短橫孔不是一個概念。

什么學校？瞎搞的

胡宏宇 發表于 2015-9-17 05:33
CSK-IIIA要滿足EN583-2的設計要求檢測，用5MHz以上，學校里面卻用2.5P8×9的橫波探頭在CSK-IIIA試塊上做DAC ...

我想表達的是：設計參考試塊是不是根據EN583-2來設計就可以了？是否還需要考慮其他條件，如側面或底面干涉？（因為我發現EN583-2好像沒考慮底面干涉，）如果只根據EN583-2來設計，那CSK-IIIA試塊中的反射體是否設計合理？