關(guān)于斜探頭K值

只看該作者 · 2016-8-2 20:02:33

本帖最后由 xldw89sy 于 2016-8-4 10:39 編輯

“波束與被檢缺陷平面相垂直時(shí)，反射效果最好，最有利于缺陷的檢出。”
剛做超聲的時(shí)候，發(fā)現(xiàn)實(shí)際檢測(cè)和理論檢測(cè)還是有很大區(qū)別的。一開始發(fā)現(xiàn)有很多探頭的實(shí)測(cè)k值和標(biāo)稱值不一致。后來(lái)聽同事說，這很正常。廠家批量生產(chǎn)的探頭，不可能有很高的精確度，都會(huì)有一定量的偏差。所以在調(diào)機(jī)器的時(shí)候，每次都需要測(cè)試實(shí)際的k值再做曲線。后來(lái)做得多了，發(fā)現(xiàn)k值超過正-2度，照樣還可以用。但是標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，如果實(shí)測(cè)K值超過標(biāo)稱K值正負(fù)兩度，就不能再用（不是標(biāo)準(zhǔn)原文，因?yàn)橥露颊fK值變化超過兩度，一是磨探頭，一是丟棄，所以認(rèn)為是不能用）。一直對(duì)這一句話不太理解。一開始認(rèn)為，如果超過正-2度。可能波束與缺陷的角度會(huì)有較大的變化。導(dǎo)致反射效果急劇下降，造成漏檢。后來(lái)隨著對(duì)超聲波束的認(rèn)識(shí)加深。發(fā)現(xiàn)這一解釋不符合實(shí)際。超聲波束會(huì)有一定的上下擴(kuò)散角。假如某一缺陷與70度波束垂直，實(shí)測(cè)為68度的波束會(huì)有70的上擴(kuò)散角與缺陷垂直。因?yàn)槭菙U(kuò)散角檢測(cè)到，波高會(huì)低一些。但不會(huì)沒有反射。

后來(lái)查找資料，發(fā)現(xiàn)探頭角度也不是固定的（剛?cè)胄械牟锁B，以為就標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的幾個(gè)探頭）。現(xiàn)在我們公司做的產(chǎn)品，都是用45、60、70度的探頭。其他行業(yè)有以K值標(biāo)稱的1、1.5、2、2.5、3等。看到比較早的資料有50、55度的探頭。分析最基本的知識(shí)，“波束與被檢缺陷平面相垂直時(shí)，反射效果最好，最有利于缺陷的檢出”。今天又看了11345-2013和4730-2005發(fā)現(xiàn)兩者表述還不太一樣，再看新版的47013-2015發(fā)現(xiàn)沒有說正負(fù)兩度差值，是不是這個(gè)已經(jīng)不重要了？

那么以前標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定不能超過正負(fù)兩度的意義是什么？（以下為個(gè)人猜想）

按標(biāo)準(zhǔn)，每次檢測(cè)前需要校儀器的靈敏度、K值、水平線性等。單說K值，現(xiàn)在的數(shù)字機(jī)儀器可以生成DAC。但做好DAC后，K值是不變的了。由于磨損，實(shí)際K值改變后，對(duì)缺陷的定量、定位都會(huì)出現(xiàn)偏差（DAC曲線還是按以前的K生成的）。而這個(gè)偏差的極限就是正負(fù)兩度。比如，實(shí)測(cè)為70度的探頭，做好DAC用了一段時(shí)間后，實(shí)際角度變?yōu)?8度，這時(shí)定位、定量就會(huì)有較大影響，必需重新做DAC（但探頭還是可以用的）。

無(wú)損檢測(cè)新人，望前輩多多指點(diǎn)。