雙晶直探頭檢測產生偽缺陷

使用一個100mm×50mm的試塊進試驗。如下圖，真實缺陷為50mm，偽缺陷在75mm左

這個問題在工作中遇到過，你用單晶直探頭，在CSK-IA后在IIW試塊上，都可以得到驗證。

M2M_NDTengineer 發表于 2016-8-13 14:43
側壁回波干擾會很厲害么？我對這個沒有概念。下圖是我用單晶探頭在100mmx50mm試塊上做的實驗，在142mm處 ...

雙晶直探頭是有固有回波的，47013鍛件試塊已經注意側壁干涉了

你放鋼板上打也也會這樣，單晶直探頭的聲程路徑怎么可以拿來解釋雙晶直探

M2M_NDTengineer 發表于 2016-8-13 14:43
側壁回波干擾會很厲害么？我對這個沒有概念。下圖是我用單晶探頭在100mmx50mm試塊上做的實驗，在142mm處 ...

這個應該是。特種設備教材上找到的

xldw89sy 發表于 2016-8-12 22:10
圖文結合，分析的很有條。只是有兩點疑問：
1、用的是100mm*50mm試塊，根據你的儀器顯示，探頭打的是100mm ...

側壁回波干擾會很厲害么？我對這個沒有概念。下圖是我用單晶探頭在100mmx50mm試塊上做的實驗，在142mm處有回波，這個是側壁回波干擾嗎？

xldw89sy 發表于 2016-8-12 22:10
圖文結合，分析的很有條。只是有兩點疑問：
1、用的是100mm*50mm試塊，根據你的儀器顯示，探頭打的是100mm ...

你說的有道理，
第一個問題：可以用一個100mmx100mm的試塊對比下。
第二個問題：剛開始沒注意到這個問題，分析發現，150mm處的偽缺陷和50mm處的缺陷二次回波重合了所以能量沒有衰減。好問題~
圖片是沒有缺陷時的底波

圖文結合，分析的很有條。只是有兩點疑問：
1、用的是100mm*50mm試塊，根據你的儀器顯示，探頭打的是100mm深度，那么寬度是50mm。底波（100mm）后面的波（125mm、150mm)也可能是側壁回波；
2、已知缺陷信號（50mm)的波高為45%，75mm處波高8.8%，相差5倍。在探頭延時塊內反射一次。底波（100mm)波高105%，125mm處波高20%，也是相差5倍，為探頭延時塊內反射一次。按照您的推理，150mm處回波為探頭延時塊內的二次反射，那它應該是（125mm）處信號波高的五分之一，與顯示不符。

跟大家交流一下

藍色線表示延遲塊和被檢測物界面二次反射聲程；
橙色線表示延遲塊和被檢測物界面三次反射聲程；
聲程計算方式：s = t. v
超聲檢測試塊里的v = 5900m/s，而延遲塊中的真實速度卻是v0=2700m/s。已知偽缺陷的間隔是25mm，我們可以計算出延遲塊的厚度h0：
h0=t .v0;
t=s/v;
h0= v0 .s/v=11.5mm

我分析了下：雙晶探頭由發射和接收單元組成，發射和接收單元都存在延遲塊。在零點校準時，我們會把延遲塊的延遲時間校準過來。但是如果延遲塊和被檢測物界面發生二次反射，這樣就會引起偽缺陷。如下圖：