關于奧氏體不銹鋼對接接頭超聲檢測方法的疑問

標準47013.3的附錄I，奧氏體不銹鋼對接接頭超聲檢測方法里，關于試用厚度的范圍是10mm~80mm，是不是10mm以下的奧氏體不銹鋼對接接頭的埋藏缺陷就只能用射線檢測了？另外就是其他不銹鋼的對接接頭的埋藏缺陷如果采用超聲檢測，該參考47013.3的附錄I的相關規定，還是參考其他的有關規定，請各位老師賜教。謝謝

歐標奧氏體檢測可以檢6mm左右的；這個主要看探頭的性能，10mm以上是超聲檢測相對射線檢測稍有優勢的厚度。再薄了，常規超聲檢測工藝可檢范圍，聲束可達性，檢測可靠性，缺陷檢出率都會受到不利影響。實際檢測時，首次工藝驗證能通過的話，10mm以下的還是可以檢的，比如304材料，橫波可檢性還是可以的。歐標可采用SH偏振橫波對奧氏體不銹鋼進行檢測

我用電力規程DL/T820-2019

紅色楓葉 發表于 2023-4-17 21:40
千古難題了，相控陣吧厚度小些，但哪個機構能出報告呢

4月份剛考了相控陣，確實比普通UT要好不少，更直觀，就是評圖有點難度，坐等結果。出相控陣報告，是不是得需要取相應的資質

千古難題了，相控陣吧厚度小些，但哪個機構能出報告呢