用大平底對鍛件單個缺陷定當?shù)牡撞ɑ鶞庶c選取

鍛件檢測中，當缺陷聲程大于探頭3倍近場時，可利用底波調(diào)節(jié)靈敏度對缺陷進行定量，但由于鍛件不同部位的材質(zhì)衰減差異會造成底波高度不一，因此請教：當對一個單個缺陷進行定量時，調(diào)節(jié)靈敏度的底波選取點是應(yīng)該在最接近缺陷的工件完好處還是在整個鍛件的底波回波最高處呢？

很好的問題，我也想了解一下，幫你頂一下。{:soso_e179:}

不同部位的衰減所導致的波高的差別應(yīng)該不會很大吧？是否選擇的探頭頻率太高了？

調(diào)節(jié)靈敏度的底波選取點應(yīng)該在最接近缺陷的工件完好處!

非常感謝老師的指導，

{:soso_e163:}

不同的標準有不同的規(guī)定吧。。。
JB系列的標準是在無缺陷的完好區(qū)域測試，但未具體指定是距缺陷最近處還是其他的完好區(qū)域；
GB/T6402-2008--同樣是無缺陷處的可以代表完好鍛件材質(zhì)處的底波以基準，同樣也沒明確操作方法，位置要求.

國外的大致翻了下，

---ASTM，EN提到了DGS法，類似于底波法，這個方法需有探頭廠提供的DGS曲線，但是對于在何處調(diào)底波取得參考當量也沒有明確；
---JIS Z2344提了底波法，但未明確具體的操作方法。

歡迎大家補充！！！

個人同意丁工的說法。因為這樣可以比較準確反映缺陷的當量。

JB/T4730.3-2005雖然提了傳輸衰減的測量方法，沒有規(guī)定同一鍛件在同一檢測面上衰減系數(shù)的允許波動范圍，也沒有對鍛件以底波法調(diào)節(jié)檢測靈敏度時的具體方法，部位要求作出說明。如果一個鍛件比較大，晶粒組織并不均勻，且缺陷正好處于晶粒組織相對較大處，如果以完好細組織處的底波調(diào)節(jié)基準靈敏度，則實際的缺陷當量有可能被低估。建議標準對于這一方法進行明確的說明。

只要不超過2dB就不用考慮

學習了。。。謝謝

{:soso_e179:}