對AWS D1.1理解不懂不透的地方（請教高手）

第一，基準靈敏度為1.6mm的孔，50%波高時的dB值。那么當進行掃查檢查時，反射波高達到多少%FSH時，需要對缺陷進行進一步探測，多少以下可以不及考慮。就像在DAC曲線中，評定線以下的不計？
第二，在超聲驗收標準中，A級為小于5，B級為6，C級為7,D級為大于8,那么我想問，是不是要對最終計算的d=b-a-c進行四舍五入計算？
第三，我能否做DAC曲線來彌補不同聲程下的聲束衰減，然后再計算的時候，就不計c的值，因為在距離波幅曲線中已進行修正，對于A級，無論多大缺陷都不合格，那我定義為判廢線，在做基準曲線的基礎上提高5dB作為判廢曲線。這樣是否可以？因為我們的機器不具備實時計算衰減c的具體數(shù)值，很麻煩？
期待答案，學習。

第一，基準靈敏度為1.6mm的孔，50%波高時的dB值。那么當進行掃查檢查時，反射波高達到多少%FSH時，需要對缺陷進行進一步探測，多少以下可以不及考慮。就像在DAC曲線中，評定線以下的不計？按照聲程和檢測要求，比如動載荷還是靜載荷進行增加掃描靈敏度。發(fā)現(xiàn)顯示按照基礎波高顯示的增益值進行計算，從而定量
第二，在超聲驗收標準中，A級為小于5，B級為6，C級為7,D級為大于8,那么我想問，是不是要對最終計算的d=b-a-c進行四舍五入計算？是的
第三，我能否做DAC曲線來彌補不同聲程下的聲束衰減，然后再計算的時候，就不計c的值，因為在距離波幅曲線中已進行修正，對于A級，無論多大缺陷都不合格，那我定義為判廢線，在做基準曲線的基礎上提高5dB作為判廢曲線。這樣是否可以？因為我們的機器不具備實時計算衰減c的具體數(shù)值，很麻煩？理論可行，但計算是進行四舍五入的，你的曲線將是臺階式的

丁偉臣 發(fā)表于 2013-3-11 14:45
第一，基準靈敏度為1.6mm的孔，50%波高時的dB值。那么當進行掃查檢查時，反射波高達到多少%FSH時，需要對缺 ...

謝謝丁工的解答！
第一問題，是不是在基準靈敏度1.6mm孔，50%波高時的dB值，基礎上增益14db（聲程為小于65），此時作為掃查靈敏度。當缺陷反射波超過50%時，需要進一步考慮其是否滿足驗收標準。當波高不達到50%FSH時，不考慮那？AWS標準要求盡量使用一次波進行檢測，那么我在實際檢測時，標準上規(guī)定的聲程小于65mm，這個聲程是不是指一次波得到的聲程？
第三個問題：能否有方法將檢測過程變得簡單，因為設備的原因，需要在檢測過程中計算，那么在現(xiàn)場檢測是很不方便，需要計算d值。？

第一個問題：聲程是按照角度和壁厚計算的結果。提高的掃查靈敏度，實際的定級仍舊采用公式按聲程衰減進行確定；
第三個問題：采用EXCEL進行制表

丁偉臣 發(fā)表于 2013-3-11 15:38
第一個問題：聲程是按照角度和壁厚計算的結果。提高的掃查靈敏度，實際的定級仍舊采用公式按聲程衰減進行確 ...

我還是沒太明白，那我再基準靈敏度基礎上提高14db作為掃查靈敏度，那么反射體波高多少時需要計算d值，不能出現(xiàn)一個反射體，都要進行計算吧？提高14db已經(jīng)很高了，很多看不見的波都會高于水平基準線。就說，提高掃查靈敏度以后，反射體波高達到多少FSH時需要考慮為相關顯示。

由于不同角度不同厚度的評定不一樣，好像沒有你所需要的簡潔方法！
在此掃查靈敏度下，發(fā)現(xiàn)顯示都需要進行評定的！先定級，后測長！再按表進行評定合格與否！

丁偉臣 發(fā)表于 2013-3-11 19:34
由于不同角度不同厚度的評定不一樣，好像沒有你所需要的簡潔方法！
在此掃查靈敏度下，發(fā)現(xiàn)顯示都需要進行 ...

那現(xiàn)在縮小研究范圍，厚度僅為8~30，探頭角度為70.那比如實際操作時聲程小于65mm，那么我在基準靈敏度基礎上，在提高14db作為掃查靈敏度。當缺陷反射波高大于50%屏高時，我將進一步計算其是否滿足標準，對于50%屏高以下的波我忽略不計，考慮的角度：因為d=b-a-c,在提高14db時，其實也相當于比基準靈敏度低14db的波不考慮，因為即使衰減c再大，14-c一般都會大于等于8，即為滿足標準D級，無論多大都合格。這樣將提高14db以后的50%屏高作為平定線。丁工，您看那？

可以如此操作！

用習慣還好！

王緒軍 發(fā)表于 2013-3-13 09:22
用習慣還好！

請問王老師，關于計算d=b-a-c的問題，在計算時，我是先對c值進行四舍五入再計算，還是先將計算的c值代入公式中，將d的結果進行四舍五入那？這兩種不同算法將影響缺陷的評級？