儀器的掃查靈敏度不變，改換不同頻率探頭,...

    例如，原來的掃查靈敏度是頻率為2.5MHz的直探頭，發現缺陷當量為2mm;后來換成2MHz或1.25MHz，但距離波幅曲線未變(還是2.5MHz探頭的)，儀器的掃查靈敏度未變(發射強度，增益衰減等狀態未變)。請問: 檢測結果---缺陷當量，可能會出現什么變化呢？(謝謝下面這位朋友，根據他的回復，我進行了修改)

李濟科 發表于 2013-3-18 16:13
我發這個帖子的目的，是想討論另一個帖子提出的問題。另一個帖子，即kgkevin 先生的帖子《直探頭頻率大小對 ...

我換不同頻率探頭的時候，AVG曲線是按照當前探頭分別制作的。

近場區變大，分辨力變差，最小可檢出的缺陷大小變大（這里的大小應該是垂直于超聲傳播方向的缺陷大小）

不變！{:soso_e100:}

同晶片尺寸的探頭，近場區變小才是。探頭檢出的缺陷的理論最小尺寸變大，但是實際缺陷檢出情況，則視待檢材料晶粒尺寸和探頭頻率“匹配”情況而定。對于粗晶材料，有文獻指出，波長大于十倍平均晶粒尺寸為可檢條件。

丁偉臣 發表于 2013-3-17 19:12
不變！

頻率變小↓>波長變長↑近場區變小↓>聲束擴散角變大↑>橫向分辨率變差↓>理應回波降低↓;
但是頻率變小↓>也伴隨著衰減變小↓>，回波又有可能升高↑。
所以可能出現不同情況。
丁工：不變的原因可以解釋下嗎？如果不變那我們豈不是可以對多個探頭只做一個dac曲線？

近場區變小，已改正！

謝謝以上朋友參與討論！尤其謝謝楓林晚先生的實驗！！關鍵問題是:怎么用理論來解釋他這個實驗？

是不是跟計算公式有關系

楓林晚先生的觀點，基本正確。希望去查查平底孔反射聲壓公式，詳細說明。

我發這個帖子的目的，是想討論另一個帖子提出的問題。另一個帖子，即kgkevin 先生的帖子《直探頭頻率大小對鍛件缺陷當量的影響》。