47013.3掃查靈敏度復核疑問

根據(jù)47013.3中4.5.6.3的表述是不是可以理解為當靈敏度偏高時，需要進行復檢，當靈敏度偏低時，需要重新評定？？？但個人認為如果靈敏度偏低，會造成缺陷漏探，應該復檢；而如果靈敏度偏高，就會把不超標缺陷判為超標，這時重新評定就行了啊。請各位大神指點

看上面的圖片，你理解的正好相反。復核靈敏度時，人工反射體低于2個dB，說明靈敏度低了，需對所檢部位進行復檢；超過2dB時，說明靈敏度高了，需要重新評定。

你理解的不對，復核靈敏度時，人工反射體低于2個dB，說明靈敏度低了，所以要對所檢部位進行復檢；超過2dB時，說明靈敏度高了，需要重新評定。

為人民服務 發(fā)表于 2017-10-30 18:43
你理解的不對，復核靈敏度時，人工反射體低于2個dB，說明靈敏度低了，所以要對所檢部位進行復檢；超過2dB ...

復核時，回波幅度下降2各dB說明原來的靈敏度是偏高的啊。如果說標準上的描述是對于模擬機來說的，而且模擬機與現(xiàn)在的數(shù)字機是的變化是相反的，標準上的描述就是沒問題的。（接觸這個行業(yè)不久，對模擬機不是特別了解）

月夜殤 發(fā)表于 2017-10-30 18:52
復核時，回波幅度下降2各dB說明原來的靈敏度是偏高的啊。如果說標準上的描述是對于模擬機來說的，而且模 ...

你說的是掃查帶曲面的工件，當掃查曲面工件時，探頭會形成凹槽，復核時試塊的靈敏度低于工件靈敏度。但是正常情況下導致的靈敏度偏低，所以標準上的意思與之相反。

進來學習了

根據(jù)47013.3中4.5.6.3的表述是不是可以理解為當靈敏度偏高時，需要進行復檢，當靈敏度偏低時，需要重新評定？？？但個人認為如果靈敏度偏低，會造成缺陷漏探，應該復檢；而如果靈敏度偏高，就會把不超標缺陷判為超標，這時重新評定就行了啊。請各位大神指點
下降2dB,說明此時的靈敏度低了，前面檢測的可能漏檢，需要進行復檢；高2dB,說明此時的靈敏度高了，需重新評定。

下降2dB,說明此時的靈敏度低了，前面檢測的可能漏檢，需要進行復檢；高2dB,說明此時的靈敏度高了，需重新評定。