關(guān)于RT底片外觀缺陷處理的討論

首先，若能夠確定底片上的影像為外觀缺陷，然后，若能夠確定該影像不影響其他缺陷評(píng)定的情況下：是否可以由射線部門發(fā)起外觀缺陷的NCR，技術(shù)部門給出外觀缺陷的處理意見，修磨消除該缺陷后進(jìn)行MT或PT檢測(cè)。最終關(guān)閉該NCR。這樣的話，可以避免由外觀缺陷導(dǎo)致射線大量的復(fù)拍工作。
大家對(duì)此處理程序有何意見呢？

理論上是行得通的，但是外觀檢驗(yàn)是上一工序，工序質(zhì)量很重要，這是一判不清的官司！

cyz 發(fā)表于 2022-5-23 09:12
理論上是行得通的，但是外觀檢驗(yàn)是上一工序，工序質(zhì)量很重要，這是一判不清的官司！ ...

外觀檢驗(yàn)是上序沒錯(cuò)。
但是，工序進(jìn)行至無(wú)損檢測(cè)發(fā)現(xiàn)外觀缺陷這種情況。開出的NCR可以是外觀檢驗(yàn)漏檢等原因。那么，關(guān)閉該NCR的方法可以是通過(guò)外觀檢驗(yàn)或表面檢測(cè)。
我的意思是：未必是RT發(fā)現(xiàn)的外觀缺陷就一定要通過(guò)RT去關(guān)閉。