TOFD直通波之上的缺陷檢出問題

如圖，直通波之上有個缺陷A，此種情況缺陷A可否檢出？

假如換成下面這幅圖，這個缺陷可以檢出嗎

不可檢出，聲波到不了

如果聲場可以到達的應該可以，能做實驗驗證一下最好。

furulong 發表于 2015-3-9 12:23
如果聲場可以到達的應該可以，能做實驗驗證一下最好。

我對這個問題疑問了很久了，我們公司也有以色列的TOFD儀器，但是這種試塊倒是沒有，在工件上就不好去驗證了，我覺得工件表面如果足夠好的話，應該還是可以的。就是苦于無實物去驗證。

糟老頭子 發表于 2015-3-6 20:23
不可檢出，聲波到不了

第二幅可能到不了，第一幅探頭相對，加上聲波擴散，我覺得或多或少應該是有到達缺陷的波的

紫云煙 發表于 2015-3-9 16:36
第二幅可能到不了，第一幅探頭相對，加上聲波擴散，我覺得或多或少應該是有到達缺陷的波的 ...

理論和實際會有一定差別的，所以別人說的只是一種參考，最好做個試驗驗證。

上表面盲區，即使聲波到了，也檢不出來。

天山 發表于 2015-3-10 08:15
上表面盲區，即使聲波到了，也檢不出來。

正常情況下是有可能會掩蓋在直通波下，濾掉直通波應該還是可以看到的，都是紙上談兵了

兩種情況都檢測不到，直通波的定義是從發射探頭沿工件以最短路徑到達接收探頭的超聲波，以上兩種情況的缺陷都在直通波以外，而TOFD檢測所檢測的范圍在直通波和地面反射波之間，所以無法在有效區域內檢測到有效的缺陷信號。

應該不行