無損檢測在線問題解答

支持支持！！！

{:soso_e179:}響應、支持！

  丁老師：
              1. 在筒形鍛件或環形鍛件檢測中，Φ900／Φ700×500，探頭為Φ14,2.5MHZ,探頭在周向（凸面）和端面檢測。探頭在周向檢測，檢測面和底面均為曲面，材質衰減系數如何測定？
              2.探頭在端面檢測，底面反射面不夠大，材質衰減系數如何測定？
              3.在檢測時，周向和端面均發現有超標缺陷（不是同一個），缺陷深度：a.大于3N,b.小于3N,由缺陷引起的底波降低量如何測定？
             4.雙晶直探頭是否可測定由缺陷引起的底波降低量如何測定？
                  

現 有一厚度12mm的對接焊縫，底片上在圓形缺陷評定區內有圓形缺陷1mm四個，0.5mm缺陷12個。這張底片按JB/T4730.2該評幾級？

585858 發表于 2012-12-21 21:07
丁老師：
              1. 在筒形鍛件或環形鍛件檢測中，Φ900／Φ700×500，探頭為Φ14,2.5MHZ,探頭在 ...

1. 在筒形鍛件或環形鍛件檢測中，Φ900／Φ700×500，探頭為Φ14,2.5MHZ,探頭在周向（凸面）和端面檢測。探頭在周向檢測，檢測面和底面均為曲面，材質衰減系數如何測定？
可以進行測定，但必須考慮曲面的修正。具體修正的方法根據內外徑查表可得相應的曲面補償值。
2.探頭在端面檢測，底面反射面不夠大，材質衰減系數如何測定？
一般鍛件測量材質衰減無需每個方向測量，也可采用更大晶片直徑的探頭進行檢測。
3.在檢測時，周向和端面均發現有超標缺陷（不是同一個），缺陷深度：a.大于3N,b.小于3N,由缺陷引起的底波降低量如何測定？
不可采用計算的方法在小于3N聲程時！采用DAC法或DGS法
4.雙晶直探頭是否可測定由缺陷引起的底波降低量如何測定？
可以，采用DGS法或DAC法！

{:soso_e163:}

360124249 發表于 2012-12-10 20:40
射線問題請教  洗出來的片子 對比度不好 請問有什么好的解決的辦法

降低管電壓

明明a 發表于 2013-1-4 15:45
現 有一厚度12mm的對接焊縫，底片上在圓形缺陷評定區內有圓形缺陷1mm四個，0.5mm缺陷12個。這張底片按JB/T ...

已回答！

頂一個、、、、、

關于返修幾次才換板，各位大哥有什么標準和工藝？

你敢換板？真的牛{:soso_e193:}