JB/T4730.3（超聲）討論區

關于JB/T 4730.3-2005中有關缺陷測高方法的疑問

  附錄I上給出了三種缺陷測高方法，分別是：端點衍射波法DW、端點最大回波法DE、6dB法。其中在端點衍射波法中還特意將DW和DE加以區分，如示意圖I.4上端點衍射波法DW在端點最大回波法DE之后出現。

所以我有了這么一個疑問，煩請各位專家關注：即在缺陷端部聲程位置唯一的情況下，兩者在顯示屏幕上的位置不一，這是否說明衍射波DW的聲速與橫波DE的聲速不相同？如果兩者在顯示屏上位置相同，那這兩種測高方法是否還有區別？

“上端點衍射波法DW在端點最大回波法DE之后出現”，“這是否說明衍射波DW的聲速與橫波DE的聲速不相同？”
回答：不是聲速問題，是衍射點與反射點不一致造成的。

同意強總的回復。JB/T4730.3附錄I圖I.4，說明緊鄰端點，缺陷有粗糙凸凹處，具備反射條件。這說明:端點衍射法可靠，而端點反射法是否產生，要視端點粗糙凸凹情況！我原來堅持的觀點:有端點，則有反射?？磥礤e了?。?/font>

李濟科 發表于 2012-2-16 16:03
同意強總的回復。JB/T4730.3附錄I圖I.4，說明緊鄰端點，缺陷有粗糙凸凹處，具備反射條件。這說明:端點衍射 ...

感謝兩位專家的指點，那應該是附錄I的圖I.4畫得有些不是很好，要是能在端點附近稍微粗糙一點就好說明了。一個是反射面，最高波一般都不會處于端點，另一個是衍射的端點，位置唯一。不知道我這樣理解對不對？

謝謝您提出了有價值的問題。是的，您的理解，和我相同。

JB/T4730.3第3.3.2掃查覆蓋率  為確保檢測時超聲聲束能掃查到工件的整個被檢區域,探頭的每次掃查覆蓋率應大于探頭直徑的15%.

條文中的“探頭直徑”應修改為“探頭晶片直徑”。

探頭晶片尺寸與有效聲場的分布仍有差別，建議更改為確保有效聲場10%以上的重復！

樓上提到有效聲場，那么對實際操作者來說有效聲場到底有多大呢，直徑20的直探頭的聲場是多少呢 操作起來是不是不太實際呢？求解答

有效聲場是在檢測前由檢測人員測試的結果。有效聲場的直徑與聲程有關。如果不進行必要的測試、探頭的性能如何不進行控制，這樣的檢測結果可信嗎？

          關于超聲波探頭需要討論的問題很多！我國的超聲波探頭和歐美的有很大的差距，深入探討可以幫助我們理解國外同類標準的驗收部分，檢討我們超聲波檢測的不足！