相控陣直探頭檢測(cè)-靈敏度的選擇

糟老頭子 發(fā)表于 2013-5-22 17:53
不好意思，我還是不明白你的問(wèn)題是什么。能再詳細(xì)說(shuō)下嘛？

同志，你好！{:soso_e100:}
  我已經(jīng)描述的很清楚了，麻煩你再次推敲一下！ 應(yīng)該有所發(fā)現(xiàn)！會(huì)明白我的問(wèn)題的！！
我挺你~！

allen_hay 發(fā)表于 2013-5-22 15:31
你將該現(xiàn)象重復(fù)一下，扶穩(wěn)探頭，降低設(shè)備的脈沖重復(fù)頻率，看該現(xiàn)象還存不存在。
如果仍然存在，換一個(gè)常規(guī) ...

你的提示很好！
1、首先降低重復(fù)頻率時(shí)，并沒(méi)，沒(méi)有引起相關(guān)圖示的靈敏度較低，所以可以斷定：和重復(fù)頻率沒(méi)有關(guān)系的!
2、目前我沒(méi)有采用常規(guī)的探頭進(jìn)行檢測(cè)；但是你的提示，經(jīng)過(guò)多次反射形成的誤接收。
      這也許是唯一的解釋了。。

Ansan 發(fā)表于 2013-5-22 19:30
你的提示很好！
1、首先降低重復(fù)頻率時(shí)，并沒(méi)，沒(méi)有引起相關(guān)圖示的靈敏度較低，所以可以斷定：和重復(fù)頻 ...

不知是不是因?yàn)槲业睦斫饽芰Ρ容^差，還是不太明白你問(wèn)題的所在。
增加增益后，靈敏度提高，工件中的噪聲或小的缺陷當(dāng)然會(huì)顯示出來(lái)，這很正常啊？你還是傳個(gè)圖片詳細(xì)你的問(wèn)題為好，畢竟超聲波這東西也不是很好理解的，樓下，你說(shuō)呢？

糟老頭子 發(fā)表于 2013-5-22 20:56
不知是不是因?yàn)槲业睦斫饽芰Ρ容^差，還是不太明白你問(wèn)題的所在。
增加增益后，靈敏度提高，工件中的噪聲 ...

你提到的‘“工件中的噪聲或者小缺陷”，我這有個(gè)疑問(wèn)！
條件： 使用相控陣直探頭，增益讀數(shù)為40dB,去檢測(cè)鋼板T=20mm, 如果發(fā)現(xiàn)相關(guān)顯示的深度數(shù)值小于20mm的缺陷。。你如何去辨別是噪聲還是缺陷呢？？

Ansan 發(fā)表于 2013-5-22 23:07
你提到的‘“工件中的噪聲或者小缺陷”，我這有個(gè)疑問(wèn)！
條件： 使用相控陣直探頭，增益讀數(shù)為40dB,去檢 ...

工件中存在對(duì)后期使用時(shí)造成負(fù)面影響的“不連續(xù)”被定義為“缺陷”，你在校準(zhǔn)好儀器靈敏度后，只要不連續(xù)的信號(hào)超過(guò)了你的檢出界限，那你就可以定義這個(gè)信號(hào)為缺陷信號(hào)了。
你在儀器上區(qū)別不出哪個(gè)是不連續(xù)，那個(gè)是噪聲信號(hào)嗎？信噪比如此之低？還是你們的“檢出界限”過(guò)于苛刻？

糟老頭子 發(fā)表于 2013-5-22 23:24
工件中存在對(duì)后期使用時(shí)造成負(fù)面影響的“不連續(xù)”被定義為“缺陷”，你在校準(zhǔn)好儀器靈敏度后，只要不連續(xù) ...

我不敢茍同！
相控陣技術(shù)，存在許多幾何缺陷，類似柵瓣！
你覺(jué)得用‘檢出界限’來(lái)判別真實(shí)缺陷和未缺陷，你覺(jué)得合適嗎？？

Ansan 發(fā)表于 2013-5-22 23:38
我不敢茍同！
相控陣技術(shù)，存在許多幾何缺陷，類似柵瓣！
你覺(jué)得用‘檢出界限’來(lái)判別真實(shí)缺陷和未缺陷 ...

本來(lái)就是這樣判斷的，你看常規(guī)超聲做定量曲線（dac dgs），一樣的

Ansan 發(fā)表于 2013-5-22 23:38
我不敢茍同！
相控陣技術(shù)，存在許多幾何缺陷，類似柵瓣！
你覺(jué)得用‘檢出界限’來(lái)判別真實(shí)缺陷和未缺陷 ...

你覺(jué)得相控陣不能定量嗎？

糟老頭子 發(fā)表于 2013-5-23 09:10
你覺(jué)得相控陣不能定量嗎？

首先一點(diǎn)相控陣能定量！但是目前的技術(shù)只是利用演變下來(lái)的TCG進(jìn)行定量。
但是它比常規(guī)超聲復(fù)雜性強(qiáng)，存在的幾何形狀相關(guān)圖示很多。   這就需要深入研究相控陣的原理（特別是在聲束上）+常規(guī)超聲反射和折射原理，綜合考慮才能不引起誤判。
所以在你提出的僅僅依據(jù)“根據(jù)DAC”來(lái)判定缺陷，這是我不附議的原因所在。
再舉個(gè)例子：
   假如使用直探頭檢測(cè)平板，發(fā)現(xiàn)了靈敏度的偏低的相關(guān)圖示，經(jīng)過(guò)參考了深度數(shù)值，相關(guān)圖示是在板材內(nèi)，但是波幅比我們預(yù)定TCG的波幅低。。
  但是我們并不能說(shuō)明缺陷，不存在。

{:soso_e100:}