相控陣技術(shù)學(xué)習(xí)帖

2018.1.9
讀ASME V卷四章附錄P，介紹了圖譜的識(shí)別，好的信息摘錄，PAUT采用彩虹調(diào)色板顯示數(shù)據(jù)。對(duì)于聚焦法則的更好的解釋，由一個(gè)特定設(shè)置下所有A掃描的組合。測(cè)量方法上，未介紹獨(dú)特測(cè)試方法，測(cè)長(zhǎng)、測(cè)高可采用dB法，另測(cè)高還可以采用衍射法，方法同A超，找到扇掃內(nèi)缺陷，參考A掃描。典型缺陷的分析，主要也是結(jié)合位置信息，參考A掃描信息。結(jié)合脈沖上升下降持續(xù)時(shí)間，區(qū)分面積型及體積型。
附件為李衍老師的一篇文章，主要為ASME V卷內(nèi)容，也是讀了這個(gè)文章后，查找原文重新看了一遍。ASME引用文件SE-2700內(nèi)容較全，方法部分介紹較多，后續(xù)讀完繼續(xù)整理。