DGS方法中斜探頭的傳輸修正

在斜探頭的DGS方法中，當沿圓周方向進行檢測圓柱體大型鍛件時，當我們利用IIW試塊或者IIW2試塊校正靈敏度后，如何對斜探頭進行傳輸修正（包括表面補償和聲衰減）？

前輩您好：
       “在斜探頭的DGS方法中”我是否可以理解為常用的DAC曲線為檢測靈敏度來檢測的，或者是實用AVG曲線。可否這樣做：在所用探頭的最大檢測范圍（聲程）上，在試件相同的聲程上做一個相同的標準反射體，在檢測靈敏度時掃查該標準反射體，波高與靈敏度曲線比較，得到△dB.但是這個方法只適用于材質衰減小的工件或對探頭的最大檢測范圍的缺陷的評定。
     望前輩賜教！

大愛人間 發表于 2016-12-21 11:59
前輩您好：
       “在斜探頭的DGS方法中”我是否可以理解為常用的DAC曲線為檢測靈敏度來檢測的，或者是實 ...

也可以適用于材質較大的材料，這個時候就需要考慮聲衰減了

yanyingjuanli 發表于 2016-12-24 10:19
也可以適用于材質較大的材料，這個時候就需要考慮聲衰減了

是的!

yanyingjuanli 發表于 2016-12-24 10:19
也可以適用于材質較大的材料，這個時候就需要考慮聲衰減了

請教前輩所提出的問題的方法！謝謝！

yanyingjuanli 發表于 2016-12-24 10:19
也可以適用于材質較大的材料，這個時候就需要考慮聲衰減了

請教前輩所提出的問題的方法！謝謝！

但大多數情況是試塊和工件尺寸不一致阿。

阿克 發表于 2024-2-28 21:33
但大多數情況是試塊和工件尺寸不一致阿。

所以需要修正啊

一般用斜探頭的條件是內孔已經加工，目的：檢測外表面的裂紋，角度一般是38度或者45.如果是GE的設備直接生成曲線不做衰減補償，雖然聲程很遠。

且一般驗收按照EN10228-3驗收級別4級，表面要求已經很高。沒有必要做傳輸修正

另外你還可以做UT工藝明確操作流程。附件是我們之前一個項目外表面用45度做的實驗（在報廢大軸，距離邊緣5mm鉆孔用45度和38度檢驗均能發現）

zjaitxia11 發表于 2024-3-21 22:07
一般用斜探頭的條件是內孔已經加工，目的：檢測外表面的裂紋，角度一般是38度或者45.如果是GE的設備直接生 ...

做不做聲衰減主要取決于材質吧。
另外，第一幅圖中代表的是無人工反射體SDH的back echo，對么？