DGS方法中斜探頭的傳輸修正

在斜探頭的DGS方法中，當(dāng)沿圓周方向進(jìn)行檢測圓柱體大型鍛件時(shí)，當(dāng)我們利用IIW試塊或者IIW2試塊校正靈敏度后，如何對(duì)斜探頭進(jìn)行傳輸修正（包括表面補(bǔ)償和聲衰減）？

前輩您好：
       “在斜探頭的DGS方法中”我是否可以理解為常用的DAC曲線為檢測靈敏度來檢測的，或者是實(shí)用AVG曲線。可否這樣做：在所用探頭的最大檢測范圍（聲程）上，在試件相同的聲程上做一個(gè)相同的標(biāo)準(zhǔn)反射體，在檢測靈敏度時(shí)掃查該標(biāo)準(zhǔn)反射體，波高與靈敏度曲線比較，得到△dB.但是這個(gè)方法只適用于材質(zhì)衰減小的工件或?qū)μ筋^的最大檢測范圍的缺陷的評(píng)定。
     望前輩賜教！

大愛人間 發(fā)表于 2016-12-21 11:59
前輩您好：
       “在斜探頭的DGS方法中”我是否可以理解為常用的DAC曲線為檢測靈敏度來檢測的，或者是實(shí) ...

也可以適用于材質(zhì)較大的材料，這個(gè)時(shí)候就需要考慮聲衰減了

yanyingjuanli 發(fā)表于 2016-12-24 10:19
也可以適用于材質(zhì)較大的材料，這個(gè)時(shí)候就需要考慮聲衰減了

是的!

yanyingjuanli 發(fā)表于 2016-12-24 10:19
也可以適用于材質(zhì)較大的材料，這個(gè)時(shí)候就需要考慮聲衰減了

請教前輩所提出的問題的方法！謝謝！

yanyingjuanli 發(fā)表于 2016-12-24 10:19
也可以適用于材質(zhì)較大的材料，這個(gè)時(shí)候就需要考慮聲衰減了

請教前輩所提出的問題的方法！謝謝！

但大多數(shù)情況是試塊和工件尺寸不一致阿。

阿克 發(fā)表于 2024-2-28 21:33
但大多數(shù)情況是試塊和工件尺寸不一致阿。

所以需要修正啊

一般用斜探頭的條件是內(nèi)孔已經(jīng)加工，目的：檢測外表面的裂紋，角度一般是38度或者45.如果是GE的設(shè)備直接生成曲線不做衰減補(bǔ)償，雖然聲程很遠(yuǎn)。

且一般驗(yàn)收按照EN10228-3驗(yàn)收級(jí)別4級(jí)，表面要求已經(jīng)很高。沒有必要做傳輸修正

另外你還可以做UT工藝明確操作流程。附件是我們之前一個(gè)項(xiàng)目外表面用45度做的實(shí)驗(yàn)（在報(bào)廢大軸，距離邊緣5mm鉆孔用45度和38度檢驗(yàn)均能發(fā)現(xiàn)）

zjaitxia11 發(fā)表于 2024-3-21 22:07
一般用斜探頭的條件是內(nèi)孔已經(jīng)加工，目的：檢測外表面的裂紋，角度一般是38度或者45.如果是GE的設(shè)備直接生 ...

做不做聲衰減主要取決于材質(zhì)吧。
另外，第一幅圖中代表的是無人工反射體SDH的back echo，對(duì)么？