超聲波二次波檢測(cè)靈敏度

薄板檢測(cè)大多使用二次波，如現(xiàn)在有板厚22，無(wú)余高，兩面兩側(cè)可探傷，b1級(jí)，是選擇一種大k值探頭利用二次波探傷好呢，還是選擇兩種k值利用一次波探傷好呢？另外二次波檢測(cè)靈敏度為什么高于一次波呢，是因?yàn)槎尾暢瘫纫淮尾ㄩL(zhǎng)，衰減等比較大的原因嗎？求解。

我感覺(jué)要看坡口形式 如果是單面坡口 檢查根部缺陷的時(shí)候就要用到二次波 而雙面雙側(cè)一次波的話 有時(shí)候根部缺陷要漏檢

盡可能兩面兩側(cè)，選擇兩種k值利用一次波探傷好,只有在一次波不能全體積掃查時(shí)才考慮二次波

如何選擇探頭這樣的問(wèn)題。。直接看對(duì)應(yīng)干活的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)就行了。。。對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)有很明確的規(guī)定。。。一個(gè)不是誰(shuí)憑經(jīng)驗(yàn)所能告訴你的。。。標(biāo)準(zhǔn)是你干活的選擇。也是一種法律的保障

對(duì)于薄板＜20MM的我是用2.5P20Z,做深10MM,15MM,20MM的平底孔對(duì)比試塊，做DAC曲線即可，很簡(jiǎn)單，雙晶探頭都不用，挺好

強(qiáng)天鵬 發(fā)表于 2012-12-23 23:14
1、對(duì)無(wú)余高焊縫，只要用1次波從一面兩側(cè)掃查即可（想一想，為什么？）。此種情況無(wú)必要用二次波探傷或從兩 ...

強(qiáng)老師，為什么只用1次波從一面兩側(cè)掃查即可，表面或者近表面缺陷不能漏檢嗎？

學(xué)習(xí)了。。。。

{:soso_e100:}

學(xué)習(xí)學(xué)習(xí)！！！！！

用哪個(gè)都可以，只要可以檢測(cè)就行了，至于二次波檢測(cè)靈敏度為什么比一次波高？我不是太清楚你說(shuō)的什么？