關于JB/T 4730.3-2005中有關缺陷測高方法的疑問

      這個帖子的題目，是鐵匠老板先生使用的。為了引起更多朋友關注和參與討論，我將它在此發(fā)表，并按我的理解提出了問題。JB/T 4730.3-2005附錄I、J、K上給出了三種缺陷測高方法，分別是：端點衍射波法、端點最大回波法和6dB法。我的問題是:      
    1)不論什么缺陷都可以用這三種方法測高么？   
    2)測量結果會一致么？

1)不論什么缺陷都可以用這三種方法測高么？  
每種方法有具體的適用條件，比如端點衍射波法主要用于面狀不連續(xù)的精確測長，但與測量人的技巧關系很大。
2)測量結果會一致么？
結果相當來說端點衍射法和波型轉變法的精度最高，其它的方法次之。

問題：我們標準羅列了這些方法，為何不寫明相應的使用條件？如果同樣執(zhí)行該標準，不同的人、不同的公司、使用不同的方法測得的長度不同，可能結論會相差很大，如何處理？

超聲波測缺陷高度，難道較大，復測的統(tǒng)一性也較差，用TOFD會比較準確，且可記錄