雙晶探頭的表面回波高度或者說表面泄露回波高度如何測

JB/T4730.3附錄A提到雙晶探頭的表面回波高度，而GB/T2970 附錄A提到表面泄露回波高度。從介紹看應(yīng)該是一個，都是表面回波高度與最大回波高度低40dB，請問，表面回波高度如何測？大俠請幫助。謝謝！

期待答案

沒測過但是應(yīng)該是用 給定試塊  測10mm 5.6的最大回波    然后測定表面界面回波     兩個波高差大于40dB   
界面回波的測定我覺得就是個估測，因為不像tofd檢測有明顯直通波   

還是期待有高人真正做過的  給個答復(fù)     如果有標準答案了   麻煩告訴我一聲

無論是4730中的表面回波高度還是2970中的泄露回波高度，都是一個意思。是指雙晶直探中由于隔聲層不能完全隔絕聲波的擴散，總會有很小一部分聲波直接從發(fā)射晶片傳播到接收晶片，被顯示在屏幕上，對應(yīng)的近表面聲程位置有回波顯示。關(guān)于標準規(guī)定的40db，是指探頭在焦點深度處的回波和泄露回波達到同一波高時的分貝差要大于40db。這個數(shù)值越大，說明隔聲效果越好，探頭質(zhì)量越好，反之就越差。這個回波很難避免，換句話說，這是探頭的一個固有噪音信號。如果探頭質(zhì)量不好，泄露回波高度會比較高，容易和近表面區(qū)域的缺陷回波混肴，不易甚至是無法區(qū)分造成漏檢。因此標準用40db衡量探頭質(zhì)量好壞。

我也正好遇到這個問題 ，我想問雙晶斜探頭用哪個試塊做曲線，確定靈敏度，