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那一刻 發表于 2015-10-1 21:04
這個兩個“公式”是權力機構隨機硬性規定的一個界限，不是推導出來的，就好比三八線一樣。
這樣規定是為 ...

我覺得b≧2λs/D 后者應該是聲束的寬度 這個公式主要是保證了 試塊中的通孔長度大于聲束的寬度 保證參考反射體都是長橫孔

第一個公式以前姚志忠老師講過，主要是考慮在聲程S試塊寬度不小于該處聲束寬度。
第二個化式是晶片邊緣與工件間間隙小于0.5mm時聲壓與平板聲壓比下降值可以忽略不計，大約小于3dB.按此推導出的公式即是上面的公式

大陸 發表于 2015-10-2 15:26
第一個公式以前姚志忠老師講過，主要是考慮在聲程S試塊寬度不小于該處聲束寬度。
第二個化式是晶片邊緣與工 ...

您好，“晶片邊緣與工件間間隙小于0.5mm時聲壓與平板聲壓比下降值可以忽略不計，大約小于3dB”我覺得很有道理，請問這句話出自哪里？非常感謝您的回復！

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那一刻 發表于 2015-10-2 22:34
昨天就算過了，在b=2λs/D的時候，試塊中的通孔長度小于聲束的寬度；
我猜管理層的意思是：不能短，差不 ...

b是試塊的寬度也就是橫通孔的長度，2λs/D是聲束的水平寬度
b≧2λs/D  說明橫通孔長度大于聲束的水平寬度 不是小于

天空 發表于 2015-10-3 05:54
b是試塊的寬度也就是橫通孔的長度，2λs/D是聲束的水平寬度
b≧2λs/D  說明橫通孔長度大于聲束的水平寬 ...

老師已經解答了這個問題 ，以下部分為老師回復：
謝謝提問！
公式R≤W的平方/4是推導出來的，考慮楔塊邊緣與工件間最大間隙不大于0.5mm。

b≧2λs/D 中的2λs/D是代表的聲束的水平寬度。

新的CSK-IIA試塊的寬度在設計時盡可能滿足 b≧2λs/D  。

新標準 是想將長橫孔統一作為試塊中的參考反射體。

根據UT教材P61頁用相似三角形計算出來的